關(guān)鍵特征:
· 高精度7軸機(jī)械系統(tǒng)
· 190kV/225kV/240kV/300kV反射型高功率微焦點(diǎn)射線源
· 可選190kV/225kV/240kV/300kV穿透型高分辨率納米焦點(diǎn)射線源
· JIMA卡空間分辨率測(cè)試可達(dá)0.5微米
· 支持多種平板探測(cè)器,探元大小可選100微米/127微米/139微米/200微米
· 檢測(cè)范圍:直徑620mm x 高度900mm
· 承重:100kg
· 支持diHelix螺旋CT掃描
diondo d3 | ||
射線管 | 類型 | 開放式設(shè)計(jì),支持雙射線源,可同時(shí)安裝反射型高功率微焦點(diǎn)射線管和穿透型納米焦點(diǎn)射線管 |
管電壓 | 反射型射線管:190kV/225kV/240kV/300kV 穿透型射線管:190kV/225kV/240kV/300kV 兩個(gè)射線管可自動(dòng)切換,或選配更換射線管管頭 | |
陽極靶 | 反射型鎢靶,可旋轉(zhuǎn)多次使用。對(duì)于穿透性射線管,可選配高亮度靶、高功率鉆石靶或者高分辨率靶 | |
燈絲 | 鎢絲,預(yù)調(diào)即插型 | |
冷卻 | 封閉式水冷循環(huán),同時(shí)冷卻陽極靶和渦輪分子泵,極大提高射線源的穩(wěn)定性 | |
JIMA卡空間分辨率 | 反射型射線管:2微米,穿透型射線管:0.5微米 | |
探測(cè)器 | 類型 | 非晶硅平板探測(cè)器 |
像素大小 | 100微米/127微米/139微米/200微米 | |
像素?cái)?shù)量 | ≥2048 x 2048 | |
機(jī)械系統(tǒng) | 類型 | 基于大理石基座的高精度7軸機(jī)械系統(tǒng),可升級(jí)至8軸 |
射線源到探測(cè)器距離 | 400mm – 1500mm | |
有效檢測(cè)范圍 | 直徑620mm x 高度900mm | |
承重 | 100kg | |
旋轉(zhuǎn) | n3600 | |
軟件 | 類型 | 2維射線檢測(cè)和3維CT檢測(cè) |
掃描方式 | 標(biāo)準(zhǔn)CT掃描,快速CT掃描,選配diHelix螺旋CT掃描,diPlaner平面CT掃描 | |
軟件功能 | 系統(tǒng)控制、2維射線檢測(cè)、3維CT檢測(cè)、平板探測(cè)器校正、圖像處理、灰度分析、掃描范圍擴(kuò)展,等 | |
軟件模塊 | 自動(dòng)2D射線檢測(cè)、自動(dòng)CT檢測(cè)、自動(dòng)2D和CT混合檢測(cè)、系統(tǒng)幾何參數(shù)自動(dòng)校正、感興趣區(qū)域掃描、環(huán)狀偽影校正、射束硬化校正、金屬偽影校正、支持多GPU快速重建、設(shè)備狀態(tài)自動(dòng)監(jiān)控、系統(tǒng)遠(yuǎn)程操控,等 | |
屏蔽室 | 系統(tǒng)尺寸(WxHxD) | 3600mm x 2200mm x 2200mm |
系統(tǒng)重量 | 12t | |
溫度和濕度 | 專用空調(diào)系統(tǒng),用于控制鉛房?jī)?nèi)的溫度和濕度 | |
輻射防護(hù) | 根據(jù)德國 R?V,法國 NFC 74 100 和美國性能標(biāo)準(zhǔn) 21 CFR 1020.40 制造,無需進(jìn)一步改造的全防護(hù)屏蔽鉛房。對(duì)于最終使用,須由使用人員根據(jù)當(dāng)?shù)叵嚓P(guān)法律法規(guī)申請(qǐng)相應(yīng)的認(rèn)證許可。 |
diondo可根據(jù)用戶的應(yīng)用和要求,提供定制化的系統(tǒng)配置。
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