關(guān)鍵特征:
· 多種射線(xiàn)機(jī)可選
· 定制化機(jī)械系統(tǒng)
· 支持多種平板探測(cè)器,探元大小可選50微米/100微米/139微米/200微米
定制化DR檢測(cè)系統(tǒng) | ||
射線(xiàn)管 | 類(lèi)型 | 可同時(shí)安裝高功率小焦點(diǎn)射線(xiàn)源、反射型高功率微焦點(diǎn)射線(xiàn)管和穿透型納米焦點(diǎn)射線(xiàn)源 |
管電壓 | 小焦點(diǎn)射線(xiàn)管:450kV/600kV 微米焦點(diǎn)射線(xiàn)管:225kV/240kV/300kV/450kV 納米焦點(diǎn)射線(xiàn)管:190kV/225kV | |
冷卻 | 封閉式自循環(huán)冷卻 | |
焦點(diǎn)大小 | 小焦點(diǎn)射線(xiàn)管450kV:0.4mm@700W/1.0mm@1500W (EN 12543) 小焦點(diǎn)射線(xiàn)管600kV:0.5mm@700W/1.5mm@1500W (ASTM E1165-12) 微米焦點(diǎn)射線(xiàn)管225kV/240kV:2mm (采用JIMA卡測(cè)試) 微米焦點(diǎn)射線(xiàn)管300kV:3mm (采用JIMA卡測(cè)試) 納米焦點(diǎn)射線(xiàn)管:0.5mm (采用JIMA卡測(cè)試) | |
探測(cè)器 | 類(lèi)型 | 非晶硅平板探測(cè)器/線(xiàn)陣探測(cè)器 |
像素大小 | 50um /100um /127um /139um/200um | |
像素?cái)?shù)量 | 平板探測(cè)器:>2048′2048 | |
機(jī)械系統(tǒng) | 類(lèi)型 | 高精度機(jī)械系統(tǒng) |
有效檢測(cè)范圍 | 可定制化 | |
承重 | 可定制化 | |
旋轉(zhuǎn) | n′3600 | |
軟件 | 類(lèi)型 | 2維射線(xiàn)檢測(cè) |
軟件功能 | 系統(tǒng)控制、2維射線(xiàn)檢測(cè)、平板探測(cè)器校正、圖像處理、灰度分析,支持定制化軟件功能 | |
屏蔽室 | 溫度和濕度 | 專(zhuān)用空調(diào)系統(tǒng),用于控制鉛房?jī)?nèi)的溫度和濕度 |
輻射防護(hù) | 根據(jù)德國(guó) R?V,法國(guó) NFC 74 100 和美國(guó)性能標(biāo)準(zhǔn) 21 CFR 1020.40 制造,無(wú)需進(jìn)一步改造的全防護(hù)屏蔽鉛房。對(duì)于最終使用,須由使用人員根據(jù)當(dāng)?shù)叵嚓P(guān)法律法規(guī)申請(qǐng)相應(yīng)的認(rèn)證許可。 |
恩迪集團(tuán)
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