功能強(qiáng)大的2500電路板故障檢測(cè)儀
含模擬器件測(cè)試庫(kù),可以直接對(duì)模擬器件進(jìn)行參數(shù)測(cè)試.
測(cè)量通道數(shù):24個(gè)獨(dú)立測(cè)試通道
驅(qū)動(dòng)輸出電壓:-12V~+12V
驅(qū)動(dòng)輸出電流:200mA
可測(cè)量輸入電壓:±24V
輸入阻抗:大于1MΩ
IC測(cè)試封裝型態(tài):OP放大器/比較器/DACs/ADCs
IC測(cè)試方式:在線測(cè)試,若工作在OPA工作在線性區(qū), 則可自動(dòng)計(jì)算出放大率(Av)
晶體管測(cè)試種類:晶體管/FET/TRIACS/THYRISTOR等
分立元器件測(cè)量通道可輕易的讓使用者完成分立元器件的測(cè)量工作,其內(nèi)部提供了許多測(cè)量方式,可讓使用者用于許多類型的分立元器件測(cè)試,包含功率型或高增益的分立元器件等.
特點(diǎn):
適合模擬及數(shù)字集成電路的測(cè)試.
可進(jìn)行在線或離線測(cè)試與分析.
具有24路測(cè)試通道.
安全性高的無(wú)電源測(cè)量方式.
矩陣式V-I曲線測(cè)試,可針對(duì)管腳間的阻抗曲線進(jìn)行測(cè)試.
在進(jìn)行離線測(cè)試時(shí),可針對(duì)芯片內(nèi)部進(jìn)行阻抗分析.
自動(dòng)對(duì)比及儲(chǔ)存曲線.
可切換VI,VT及IT三種顯示模式,可配合不同功能型式的FET元器件.
可設(shè)定同步脈沖信號(hào)的寬度,進(jìn)行可控硅元器件或FET的功能測(cè)試.
可進(jìn)行光電耦合器及繼電器元器件的速度功能測(cè)試.
具有二組信號(hào)源,可輸出直流信號(hào),針對(duì)光電耦合器及繼電器進(jìn)行穩(wěn)態(tài)測(cè)試.
并且顯示相似度百分比,具有業(yè)界中最多的信號(hào)頻率文件位,對(duì)于故障的查找有相當(dāng)大的幫助.
測(cè)試頻率高達(dá)到12kHz,非常適合測(cè)試電感及高頻電容器件.
本系統(tǒng)具備自動(dòng)信號(hào)補(bǔ)償功能,可針對(duì)測(cè)試環(huán)境及夾具進(jìn)行自校測(cè)試,以防止量測(cè)信號(hào)失真.
可由軟件來(lái)進(jìn)行維修日志的編寫.
可由軟件加入圖片,用來(lái)清楚的表示量測(cè)位置及電路板樣式.
可選擇利用USB或PCI通訊接口來(lái)進(jìn)行儀器的操作,也可安裝在PC內(nèi)來(lái)節(jié)省所占的空間.
英國(guó)ABI-2500電路板故障檢測(cè)儀測(cè)試參數(shù)：
| 測(cè)量通道: | 24測(cè)試通道 |
| 探筆通道: | 2通道實(shí)時(shí)對(duì)比測(cè)試 |
| 信號(hào)通道: | 2通道同步脈沖信號(hào) |
| 測(cè)試電壓范圍: | 2 V to 50 V peak to peak:2/4/6/8/10/20/30/40/50V |
| 電壓分辨率: | 8 to 12 bits |
| 測(cè)試頻率范圍: | 37.5 Hz to 12 kHz:37.5/60/75/94/120/150/187.5/240/300/375/480/600 |
| 信號(hào)電流范圍: | 1 μA to 150 mA |
| 測(cè)試阻抗范圍: | 100Ω to 1MΩ：100Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ |
| 測(cè)試信號(hào)波形: | 正弦波、三角波、斜波 |
| 顯示圖形模式: | V-I,V-T,I-T |
| 矩陣測(cè)試: | 各個(gè)管腳間的VI曲線測(cè)試 |
| 波形自動(dòng)對(duì)比: | 可利用實(shí)時(shí)量測(cè)雙通道來(lái)自動(dòng)實(shí)時(shí)對(duì)比好壞組件的波形,或?qū)⒉ㄐ芜M(jìn)行存儲(chǔ)后,再進(jìn)行比對(duì). |
| 同步脈沖輸出: | 正向(Positive),負(fù)向(negative)或雙向(bipolar)波形 |
| 同步信號(hào)振幅: | 可調(diào)式由+10V～ -10V |
