功能強(qiáng)大的2500電路板故障檢測儀
含模擬器件測試庫,可以直接對模擬器件進(jìn)行參數(shù)測試.
測量通道數(shù):24個(gè)獨(dú)立測試通道
驅(qū)動(dòng)輸出電壓:-12V~+12V
驅(qū)動(dòng)輸出電流:200mA
可測量輸入電壓:±24V
輸入阻抗:大于1MΩ
IC測試封裝型態(tài):OP放大器/比較器/DACs/ADCs
IC測試方式:在線測試,若工作在OPA工作在線性區(qū), 則可自動(dòng)計(jì)算出放大率(Av)
晶體管測試種類:晶體管/FET/TRIACS/THYRISTOR等
分立元器件測量通道可輕易的讓使用者完成分立元器件的測量工作,其內(nèi)部提供了許多測量方式,可讓使用者用于許多類型的分立元器件測試,包含功率型或高增益的分立元器件等.
特點(diǎn):
適合模擬及數(shù)字集成電路的測試.
可進(jìn)行在線或離線測試與分析.
具有24路測試通道.
安全性高的無電源測量方式.
矩陣式V-I曲線測試,可針對管腳間的阻抗曲線進(jìn)行測試.
在進(jìn)行離線測試時(shí),可針對芯片內(nèi)部進(jìn)行阻抗分析.
自動(dòng)對比及儲(chǔ)存曲線.
可切換VI,VT及IT三種顯示模式,可配合不同功能型式的FET元器件.
可設(shè)定同步脈沖信號(hào)的寬度,進(jìn)行可控硅元器件或FET的功能測試.
可進(jìn)行光電耦合器及繼電器元器件的速度功能測試.
具有二組信號(hào)源,可輸出直流信號(hào),針對光電耦合器及繼電器進(jìn)行穩(wěn)態(tài)測試.
并且顯示相似度百分比,具有業(yè)界中最多的信號(hào)頻率文件位,對于故障的查找有相當(dāng)大的幫助.
測試頻率高達(dá)到12kHz,非常適合測試電感及高頻電容器件.
本系統(tǒng)具備自動(dòng)信號(hào)補(bǔ)償功能,可針對測試環(huán)境及夾具進(jìn)行自校測試,以防止量測信號(hào)失真.
可由軟件來進(jìn)行維修日志的編寫.
可由軟件加入圖片,用來清楚的表示量測位置及電路板樣式.
可選擇利用USB或PCI通訊接口來進(jìn)行儀器的操作,也可安裝在PC內(nèi)來節(jié)省所占的空間.
英國ABI-2500電路板故障檢測儀測試參數(shù)：
| 測量通道: | 24測試通道 |
| 探筆通道: | 2通道實(shí)時(shí)對比測試 |
| 信號(hào)通道: | 2通道同步脈沖信號(hào) |
| 測試電壓范圍: | 2 V to 50 V peak to peak:2/4/6/8/10/20/30/40/50V |
| 電壓分辨率: | 8 to 12 bits |
| 測試頻率范圍: | 37.5 Hz to 12 kHz:37.5/60/75/94/120/150/187.5/240/300/375/480/600 |
| 信號(hào)電流范圍: | 1 μA to 150 mA |
| 測試阻抗范圍: | 100Ω to 1MΩ：100Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ |
| 測試信號(hào)波形: | 正弦波、三角波、斜波 |
| 顯示圖形模式: | V-I,V-T,I-T |
| 矩陣測試: | 各個(gè)管腳間的VI曲線測試 |
| 波形自動(dòng)對比: | 可利用實(shí)時(shí)量測雙通道來自動(dòng)實(shí)時(shí)對比好壞組件的波形,或?qū)⒉ㄐ芜M(jìn)行存儲(chǔ)后,再進(jìn)行比對. |
| 同步脈沖輸出: | 正向(Positive),負(fù)向(negative)或雙向(bipolar)波形 |
| 同步信號(hào)振幅: | 可調(diào)式由+10V～ -10V |
