- 專門針對光模塊流量測試：
- 豐富的接口數(shù)量，同時支持多種標(biāo)準(zhǔn)光模塊接口：2x QSFP-DD；1x OSFP；4x QSFP；4x SFP，同時支持12通道電口
- 針對光模塊大批量成幀信號測試，去除三層及以上交換/路由相關(guān)測試功能，但是全覆蓋光模塊測試需要的功能：
- FEC前和FEC糾錯后的誤碼統(tǒng)計；
- FEC裕量分析：可根據(jù)客戶需求自定義FEC Margin Auto Scan：自動并精準(zhǔn)找到被測系統(tǒng)的FEC Symbol Error 余量，并可設(shè)置目標(biāo)余量進(jìn)行長期達(dá)標(biāo)測試
- 以太網(wǎng)丟幀率測試；
- FEC 符號錯碼注入；
- L1 誤碼統(tǒng)計
- 可以監(jiān)控光模塊物理狀態(tài)、保護(hù)和控制信息，支持對模塊電壓、電流和殼溫檢測；支持完備的光模塊CIMS4.0管理接口功能；
- 每頻偏和測量接收頻率，可以全面驗證光模塊是否滿足IEEE 802.3標(biāo)準(zhǔn)
- PAM4編碼的400G測試；
- 支持多速率：400GE，200GE，100GE，50GE；（具備進(jìn)一步擴展速率能力）
- 方便易用：
- 穩(wěn)定可靠，互通性好，與業(yè)界主流儀表及光模塊完成對通測試，長時間測試結(jié)果一致性高，并支持和交換器的Link通信；
- 一鍵測試：線速業(yè)務(wù)下的光模塊延時（Latency）性能指標(biāo)測試；
- PAM4和NRZ隨意切換—軟件輕松配置，秒速切換工作模式；
- 一目了然的單頁面顯示測試結(jié)果—軟硬件優(yōu)化加速只為提升測試效率
- 集成化–減少外圍測試設(shè)備以確保生產(chǎn)測試穩(wěn)定可靠，提高效率
- 性價比–降低光模塊測試的綜合成本
產(chǎn)品指標(biāo)
| 技術(shù)指標(biāo) | 物理接口 | QSFP-DD; OSFP; SFP56; QSFP; 1x8 ganged, GPPO |
| 接口速率 | 400GE: 200GE, 100GE, 50GE | |
| 以太網(wǎng)接口協(xié)議 | IEEE P802.3bs 200GE & 400GE, 400GBASE-R IEEE 802.3cd 50 GE, 100 GE, and 200 GE Ethernet | |
| FEC | KP4 (RS-544) Ethernet Forward Error Correction, Clause 119 FEC 裕量分析 FEC 符號誤碼注入 FEC 統(tǒng)計分析: 總錯誤比特數(shù)，符號錯誤數(shù)，糾正的碼字?jǐn)?shù)量，總碼字?jǐn)?shù)量，未糾錯的碼字?jǐn)?shù)量，F(xiàn)EC前誤碼率，錯碼字分布分析 | |
| 誤碼率 | Layer 1 誤碼分析 FEC前誤碼率 FEC后誤碼率 丟幀率 | |
| 最小幀長 | 64 字節(jié) | |
| 幀長 | 16,000 字節(jié) | |
| 碼型 | 偽隨機數(shù)列 | |
| 延遲測量精度 | 400GE: 0.625 納秒 200GE: 1.25納秒 100GE: 2.5納秒 50GE: 2.5納秒 | |
| 誤碼注入 | FEC符號誤碼注入及統(tǒng)計分析 根據(jù)需求發(fā)送正確的CRC和錯誤的CRC校驗碼，支持發(fā)送比標(biāo)準(zhǔn)更長的以太網(wǎng)幀 | |
| 硬件緩存 | 400GE: 1MB 200GE, 100GE and 50GE: 1MB | |
| 通用指標(biāo) | 環(huán)境 | 室內(nèi) |
| 工作 | 溫度 0°C ~ +50 °C，相對濕度20 % ~ 80 % | |
| 存儲 | 溫度 -40 °C ~ 60 °C，相對濕度10 % ~ 90 % | |
| 海拔 | 工作：0m~2000m，存儲：0m~4600m | |
| 電源 | 交流 90~250V, 50~60Hz | |
| 尺寸 | 441×408×157mm (包括腳墊) | |
| 重量 | 小于 20kg |
