TG-61321D三箱式冷熱沖擊試驗箱儀器設(shè)備用途：

冷熱沖擊試驗箱廣泛使用于航空航天、電工電子、儀器儀表、材料設(shè)備、零部配件等模擬試件在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應性試驗及對電子元器件的安全性測試提供可靠性試驗、產(chǎn)品篩選等，同時可通過此試驗，進行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。

TG-61321D三箱式冷熱沖擊試驗箱構(gòu)造概述：

高低溫沖擊試驗箱/冷熱高溫低溫試驗室，因為冷熱沖擊試驗箱也是高低溫沖擊試驗箱，所以三槽冷熱沖擊試驗箱也是三槽高低溫沖擊試驗箱。主要結(jié)構(gòu)是由三個槽（高溫槽、低溫槽、產(chǎn)品槽）組成，高溫槽即是生產(chǎn)及儲存高溫，低溫槽即是生產(chǎn)及儲存低溫，產(chǎn)品槽則是提供給顧客擺放產(chǎn)品的空間容積。沖擊原理是采用氣體驅(qū)逐高、低溫槽的冷熱溫到擺放產(chǎn)品槽的空間內(nèi)完成試驗。

TG-61321C三箱式冷熱沖擊試驗箱產(chǎn)品特點：

1： 泰規(guī)儀器生產(chǎn)的新一代冷熱沖擊試驗箱（3箱），箱體結(jié)構(gòu)、制冷系統(tǒng)、控制技術(shù)均有較大的技術(shù)改革，運行更可靠，維護更方便。

2：制冷機采用原裝進口“泰康”或“ 比澤爾”。

3：控制系統(tǒng)采用彩色觸摸屏中英文顯示按鍵式操作，外觀更加簡單大方，操作設(shè)定簡單。

4：冷熱沖擊試驗箱根據(jù)待測試樣的特殊性，分為兩箱式幼態(tài)沖擊和三箱式靜態(tài)沖擊。本產(chǎn)品既可作冷熱沖擊實驗，也可以做單獨高溫或單獨低溫使用。

5：測試樣品一直處于靜止狀態(tài)，減少對樣品的機械沖擊，其溫度轉(zhuǎn)換通過氣動系統(tǒng)打開（關(guān)閉）不同風門來實現(xiàn)，有測試孔，可帶電，帶信號，帶氣源測試?？蓪崿F(xiàn)5℃/min-30℃/min可調(diào)。

6：冷熱沖擊試驗箱配備: SD卡儲存，USB輸出，電腦連接打印，大艙有紙無紙記錄等選配。

7：箱體加工采用數(shù)控機床加工成型，造型美觀大方，并采用無反作用把手，操作簡便。殼體采用優(yōu)質(zhì)碳素鋼板.磷化靜電噴塑處理或（選配）SUS304不銹鋼霧面線條發(fā)紋處理，內(nèi)部材質(zhì)均采用SU304高級不銹鋼材質(zhì)。

8：冷熱沖擊試驗箱配備大型觀測視窗附國際品牌照明燈保持箱內(nèi)明亮，且利用發(fā)熱體內(nèi)嵌式鋼化玻璃，隨時清晰的觀測箱內(nèi)狀況。

TG-61321D三箱式冷熱沖擊試驗箱適用于標準:

1：GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件；

2：GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫 (IEC 60068-2-1:2007, IDT)；

3：GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫 (IEC 60068-2-2:2007, IDT)；

4：GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化 (IEC 60068-2-14:2009, IDT)；:

5：GJB 150.3-86 設(shè)備環(huán)境試驗方法 第3部分 高溫試驗；

6：GJB/T 150.4-2009設(shè)備環(huán)境試驗方法 第4部分 低溫試驗；:

7：GJB/T 150.5-86 設(shè)備環(huán)境試驗方法 第5部分 溫度沖擊試驗。

8：GJB150.5- 86溫度沖擊試驗;

9：GJB360.7-87溫度沖擊試驗;

10：GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗;

11：GB11158-2008高溫試驗箱技術(shù)條件

12：GB10589-2008低溫試驗箱技術(shù)條件

TG-61321D三箱式冷熱溫沖擊試驗箱技術(shù)參數(shù)：