公司介紹
德國(guó)HP Spectroscopy公司成立于2012年，致力于為科研及工業(yè)領(lǐng)域的客戶定制解決方案，是科學(xué)儀器的供應(yīng)商和開(kāi)發(fā)商。產(chǎn)品線包括XAS系統(tǒng)，XUV/VUV/X-ray光譜儀，beamline產(chǎn)品等。主要團(tuán)隊(duì)由x射線、光譜、光柵設(shè)計(jì)、等離子體物理、beamline等領(lǐng)域的專家組成。并與的研究機(jī)構(gòu)的科學(xué)家維持緊密合作，關(guān)注前沿技術(shù)，保持產(chǎn)品的迭代與創(chuàng)新。
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
HiXAS提供了完整的基于實(shí)驗(yàn)室拓展X射線精細(xì)結(jié)構(gòu)吸收譜(EXAFS)和X射線近邊結(jié)構(gòu)吸收譜（XANES）的解決方案。在較小的占地面積內(nèi)，它集成了X射線光管光源、高分辨光譜儀、光子技術(shù)像素化X射線探測(cè)器，以及用于儀器控制和數(shù)據(jù)的分析的控制軟件。
由于hiXAS的光譜質(zhì)量于同步輻射測(cè)量的結(jié)果相當(dāng)，使得冗長(zhǎng)的同步輻射測(cè)量機(jī)時(shí)申請(qǐng)和等待變得不再有必要。
X射線光管光源和光譜儀可以覆蓋的能量范圍為5-12KeV，因此包括了3d過(guò)度金屬的K吸收邊。專門優(yōu)化的HAPG Von Hamos光譜儀結(jié)構(gòu)可以獲得信噪比的光譜。因此，可分析的樣品濃度可以低至數(shù)個(gè)質(zhì)量百分比。同時(shí)光譜儀在覆蓋的吸收邊范圍內(nèi)，保持很高效率和恒定的高分辨率（E/ΔE = 4000）。我們還可以根據(jù)您的各種應(yīng)用需要，提供定制化的hiXAS系統(tǒng)。
hiXAS可用于EXAFS和XANES測(cè)量的元素范圍。HiXAS可以在幾分鐘的時(shí)間內(nèi)測(cè)量出分析物濃度僅為幾個(gè)重量百分比的稀釋樣品。
測(cè)量結(jié)果
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hiXAS可以實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量的數(shù)據(jù)采集，能量分辨率與同步輻射相當(dāng) |
單原子催化劑Zn k邊XANES光譜。在分析物濃度低至1wt%的情況下，獲得了與高質(zhì)量的XANES光譜。hiXAS可以測(cè)量稀釋的樣品，提高對(duì)氧化狀態(tài)的識(shí)別能力 |
hiXAS對(duì)元素具有較高的靈敏性，能夠通過(guò)吸收邊能量位置實(shí)現(xiàn)對(duì)元素電子結(jié)構(gòu)及價(jià)態(tài)分析。 |
hiXAS可以測(cè)量低濃度樣品，以上為Co樣品XANES光譜。 |
應(yīng)用案例
Cu箔樣品X射線吸收測(cè)量，采集時(shí)間:3分鐘含樣品，1.5分鐘不含樣品 C. Schlesiger et al, Recent progress in the performance of HAPG based laboratory EXAFS and XANES spectrometers, J. Anal. At. Spectrom. 35, 2298 (2020) | |
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(b) 使用實(shí)驗(yàn)室臺(tái)式XAFS 譜儀 hiXAS測(cè)得的 Co，Co3O4 及macro-TpBpy-Co 的 Co K 邊吸收譜圖；(c-d) 相應(yīng)的通過(guò)傅里葉變化得到的 R 空間變換譜圖。 |
主要參數(shù)
核心元件 | X射線光管光源 von Hamos HAPG 光譜儀 光子計(jì)數(shù)，像素化X射線探測(cè)器 | |
能量范圍 | 5-12keV | |
樣品濃度 | 低至 數(shù)個(gè)質(zhì)量百分比 | |
樣品安裝 | 多樣品轉(zhuǎn)輪 | |
占地尺寸 | 2.0m x 1.0m | |
軟件套件 | 集成系統(tǒng)控制，各種光譜校準(zhǔn)和分析功能 | |
EXAFS 模式 | XANES 模式 | |
光譜分辨能力 | 1800* | 4000* |
（*整個(gè)能量范圍內(nèi)不變） | ||
能量帶寬 | 1000eV | 300eV |
采集時(shí)間 | 3分** | 8分鐘** |
（**歸一化分析物濃度） | ||
主要應(yīng)用
化學(xué)形態(tài)分析和濃度比
復(fù)合物研究
催化劑分析
短程有序和鍵長(zhǎng)確定
