K-600便攜式礦石分析儀fechang堅(jiān)固耐用，可以在極為惡劣的環(huán)境中完成分析要求的應(yīng)用。 每臺(tái)設(shè)備都應(yīng)用了1新開發(fā)的KMX技術(shù)，這種技術(shù)是XRF信號(hào)處理方面的一項(xiàng)革新，可提供jingque無(wú)誤、重復(fù)性的結(jié)果，從而使用戶獲得更高的生產(chǎn)力，并快速得到tozihuibao。k-600可以用來(lái)對(duì)各種不同類型的礦石進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)分析。通過(guò)現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試的成熟的X射線管分析系統(tǒng)，性同位素，現(xiàn)場(chǎng)分析時(shí)能做出快速而quanmian的礦石類型研究，對(duì)樣品要求低，但是測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確，能準(zhǔn)確分析高濃度樣品，避免了驗(yàn)證性的實(shí)驗(yàn)室測(cè)試。1手持式 k-600分析儀可對(duì)各種礦石進(jìn)行多元素分析，廣泛應(yīng)用于各類礦石的jiance和分析，還應(yīng)用于礦渣精煉分析及考古研究。包括金礦、銀礦、銅礦、鐵礦、錫礦、鋅礦、鎳礦、鉬礦、銥礦、砷礦、鉛礦、鈦礦、銻礦、錳礦、釩礦、碘礦、硫礦、鉀礦、磷礦、鈾礦等從磷到鈾的所有自然礦石、礦渣、巖石、泥土、泥漿。被jiance的樣品可以是固體、液體、粉塵、粉末、實(shí)心體、碎片、過(guò)濾物質(zhì)、薄膜層等有形物體。

產(chǎn)品參數(shù)

K-600手持式礦石分析儀

秉承1多年的X熒光光譜儀(手持式光譜儀)研發(fā)經(jīng)驗(yàn)，KMX全新一代手持XRF礦石分析儀——K-600再次帶來(lái)了一場(chǎng)分析領(lǐng)域的geming。K-600引入數(shù)字多道技術(shù)，使檢出限更低，穩(wěn)定性更高，適用面更廣，性能媲美臺(tái)式機(jī)；小巧便攜的體積在探礦、找礦以及各類地質(zhì)礦樣多元素jiance和分析、礦渣精煉分析中congfen發(fā)揮作用，使探礦工作更為簡(jiǎn)單、輕松。K-600手持式礦石分析儀可以用來(lái)對(duì)各種不同類型的礦石進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)分析。通過(guò)現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試的成熟的X射線管分析系統(tǒng)，性同位素，現(xiàn)場(chǎng)分析時(shí)能做出快速而quanmian的礦石類型研究，對(duì)樣品要求低，但是測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確，能準(zhǔn)確分析高濃度樣品，避免了驗(yàn)證性的實(shí)驗(yàn)室測(cè)試。

XRF資料建模技術(shù)：

1、X射線管光源、多光束過(guò)濾技術(shù)、以及惠普個(gè)人數(shù)位助理技術(shù)(惠普掌上型電腦)，從而使其采測(cè)范圍、jiance速度、jiance精度都fechang出色，并具有的升級(jí)潛力。

2、使用了*的和多用途的x射線資料模式—-采用康普頓常態(tài)化校正方法，可以利用“內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)”來(lái)進(jìn)行定量分析，而不需要進(jìn)行專門的校正。

3、基本參數(shù)分析：采用半定量分析方式，適合于檢驗(yàn)各種不同元素的構(gòu)成的結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品。

4、實(shí)驗(yàn)校正法：利用“校正曲線”進(jìn)行校正，允許使用用戶產(chǎn)生的校正曲線。

5、配備了光譜高點(diǎn)識(shí)別軟體，可在顯示幕查看光譜

6、對(duì)比光譜，參考內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)完成比較分析。

地礦行業(yè)應(yīng)用優(yōu)勢(shì)

jiance元素：標(biāo)準(zhǔn)配置可jiance30多種元素，同時(shí)可按客戶需求增加jiance元素

zhuanye性：礦石專用版分析軟件，采用智能一鍵測(cè)試

*個(gè)性化定制工作模式

多種礦樣模式選擇和無(wú)限數(shù)目模式的自由添加，根據(jù)客戶需求定制工作模式。

*congfen挖掘礦山價(jià)值

高清攝像頭，可對(duì)被jiance的礦脈或礦點(diǎn)部位進(jìn)行更直觀的觀察，并對(duì)開采過(guò)程進(jìn)行jingque管理和控制，隨時(shí)jiance礦石品位。

*對(duì)選礦過(guò)程中原礦、精礦和尾礦等進(jìn)行jingque快速分析，為礦石品位的測(cè)定、礦物貿(mào)易、加工以及再利用提供價(jià)值判定依據(jù)。

*環(huán)境監(jiān)控

對(duì)開采礦山周圍土壤中的重金屬進(jìn)行監(jiān)測(cè)和jiance，評(píng)估礦山環(huán)境的xiufu情況，zui大限度的監(jiān)測(cè)好礦山周邊的環(huán)境。

主要用途：

手持式礦石分析儀，用于礦業(yè)、地質(zhì)、土壤環(huán)境、底泥、沉積物中的有色金屬元素的快速分析測(cè)定。

1.主要配置要求:

1.1 礦石分析儀主機(jī)1套；

1.2 標(biāo)準(zhǔn)樣品1個(gè)；

1.3 原裝可充電鋰電池2塊；

1.4 充電座及電源線；

1.5 U盤(32G)1個(gè)；

1.6 加強(qiáng)型聚丙烯膜5片；

1.7 標(biāo)準(zhǔn)手提防潮防震箱一只。

技術(shù)參數(shù)及要求

1、jiance元素：可用于礦石、土壤環(huán)境中金屬元素，Mg、Al、Si、P、S、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Hf、Ta、W、Hg、Se、Au、Br、Pb、Bi、Zr、Nb、Mo、Ag、Cd、Sn、Sb、Re、Ir、Pt、Hg、Ru、Rh、Pd等元素。（紅色為SDD探測(cè)器配置）

2、探測(cè)器：美國(guó)Moxtek Si-pin（6 mm2）、美國(guó)Amptek Si-pin（25 mm2）、德國(guó)KETEK SDD探測(cè)器

3、激發(fā)源：大功率微型直板X射線管，W靶材，4W大功率X射線管，管電壓50KV，管電流zui大可達(dá)100μA；

4、采用KMX技術(shù)，更高X射線計(jì)數(shù)率，超低電子噪聲設(shè)計(jì)。每次測(cè)試前，不需要外部標(biāo)樣，自動(dòng)能量校準(zhǔn)核查；

5、濾光片：配置8個(gè)濾光片，可根據(jù)測(cè)試元素自動(dòng)切換；

6、測(cè)試方法：基本參數(shù)法，支持經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法修正

7、點(diǎn)觸或扣動(dòng)扳機(jī)控制測(cè)試開始，測(cè)試過(guò)程無(wú)需長(zhǎng)扣扳機(jī)。根據(jù)客戶需求，也可以一直按著扳機(jī)測(cè)試樣品。

8、cao作系統(tǒng)：Window CE 6.0cao作系統(tǒng)，anquan、放心

9、自診斷功能：儀器可自動(dòng)對(duì)硬件、軟件、網(wǎng)絡(luò)、電池等進(jìn)行診斷，并會(huì)生成日志，便于快速排查出故障

10、標(biāo)配模式：礦石模式；選配模式：合金分析模式、土壤分析模式