質(zhì)保時間長 TSXCANCADD3 變頻器
功能測試不能代替參數(shù)測試
2. 功能測試僅能測試到器件的截止區(qū),放大區(qū)和飽和區(qū),但無法了解此時的工作頻率的高低和速度的快慢。
3. 對數(shù)字芯片而言,僅知道有高低電平的輸出變化,但無法查出它的上升和下降沿的變化速度。
4. 對于模擬芯片,它處理的是模擬的變化量。其受電路的元器件的分布,解決信號方案的不同的影響,是錯綜復雜的。就目前的在線測試技術(shù),要解決模擬芯片在線測試是不可能的。所以,這項功能測試的結(jié)果,僅能供參考。
5. 大多數(shù)的在線測試議,在對于電路板上的各類芯片進行功能測試后,均會給出“測試通過”或“測試不通過”。那么它為什么不給出被測器件是否有問題呢?這就是這類測試儀的缺撼。因為在線測試時,所受影響(干擾)的因素太多。要求在測試前采取不少的措施(如斷開晶振,去掉CPU和帶程序的芯片,加隔離中斷信號等等),這樣做是否均有效,值得研究。至少,目前的測試結(jié)果有時不盡人意。
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BMEH582040 | BMXNOE0110 | TSXCANCB300 |
BMEH584040 | BMXNOC0401 | TSXCANCB50 |
BMEH586040 | BMXRMS008MP | TSXCANCBDD03 |
490NAC0100 | BMXRMS008MPF | TSXCANCBDD1 |
490NAC0201 | BMXRMS128MPF | TSXCANCBDD3 |
BMEH5820KA | BMXRWSB000M | TSXCANCBDD5 |
BMEH5820KD | BMXRWSC016M | TSXCANCD100 |
BMEH5840KA | BMXRWSFC032M | TSXCANCD300 |
BMEH5840KD | BMXP341000H | TSXCANCD50 |
BMENOC0301 | BMXP342020H | TSXCANKCDF180T |
BMENOC0311 | BMXP3420302H | TSXCANKCDF90T |
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IMAMM03 | 3HAC020105-001 | 3HAC021448-005 |
IMASI02 | 3HAC020108-001 | 3HAC021464-004 |
IMASI03 | 3HAC020109-001 | 3HAC021474-001 |
IMASI13 | 3HAC020113-001 | 3HAC021475-001 |
IMASI23 | 3HAC020122-001 | 3HAC021480-001 |
IMASM03 | 3HAC020123-001 | 3HAC021485-001 |
IMASO01 | 3HAC020126-001 | 3HAC021488-001 |
IMASO11 | 3HAC020128-001 | 3HAC021488-002 |
IMBLK01 | 3HAC020129-003 | 3HAC021488-003 |
IMCIS02 | 3HAC020131-001 | 3HAC021488-004 |
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數(shù)字經(jīng)濟時代的到來為工業(yè)界的智能化改造、數(shù)字化轉(zhuǎn)型帶來蓬勃動力,工業(yè)的高質(zhì)量發(fā)展,必須從科技創(chuàng)新中尋找答案,站在創(chuàng)新“高地”上進行面向未來的前瞻布局,其落腳點正是技術(shù)的融合創(chuàng)新。由施耐德電氣、亞馬遜云科技、中科創(chuàng)達以及智慧工廠研究院的專家組成的“綠色智能制造技術(shù)融合創(chuàng)新專家委員會”為入營企業(yè)提供從市場需求調(diào)研,到技術(shù)融合指導、成果落地轉(zhuǎn)化與復制、市場拓展等方面的“全生命周期”的系統(tǒng)規(guī)劃與支持,不僅賦能各個項目的聯(lián)合創(chuàng)新,更在實地調(diào)研后,以更高的視角幫助企業(yè)推動技術(shù)融合創(chuàng)新,賦能入營企業(yè)的長期發(fā)展