面對電子產(chǎn)品越來越小型輕量及高密度封裝，因結露吸濕等因素造成的絕緣不良現(xiàn)象暨離子遷移現(xiàn)象日益突出,絕緣電阻劣化(離子遷移)評估系統(tǒng)配之以高溫高濕試驗箱聯(lián)動，可高精度連續(xù)監(jiān)測，高效簡便評估因離子遷移現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關問題。
愛斯佩克絕緣電阻劣化評估系統(tǒng)可用于助焊劑、印刷電路板、光刻膠、釬料、樹脂、導電膠等有關印刷電路板、高密度封裝的材料、BGA、CSP等精細節(jié)距IC封裝件、有機半導體相關（有機EL)、電容、連接器等其他電子元器件及材料、各種絕緣材料的吸濕性特性評估。
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愛斯佩克絕緣電阻劣化評估系統(tǒng)自主開發(fā)連續(xù)通電掃描繼電器方式，配備國際標準的測量儀表，與環(huán)境試驗箱聯(lián)動，操作更簡便更安全。標配 100V 應力電壓（應力電壓 / 測量電壓），更有 1000V、2500V 高電壓規(guī)格可選。高速準確捕捉離子遷移現(xiàn)象發(fā)生的細微變化，離子遷移實時監(jiān)測?！窫-Graph」可實時編輯預覽監(jiān)測實時獲得的數(shù)據(jù)。選配可使連接試樣及線纜更方便，試驗效率更高。
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