產(chǎn)品描述：
XPV-400E/XPV-400Z透反射偏反光顯微鏡
一、用途
XPV-400E/XPV-400Z 型透反射偏反光顯微鏡是地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金等部門和相關高等院校的專業(yè)實驗儀器。高精度偏光顯微鏡可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影。透反射偏反光顯微鏡配置有石膏λ、云母λ/4試片、石英楔子和移動尺等附件還可用于化工化纖、半導體工業(yè)以及藥品檢驗等領域。
XPV-400E/XPV-400Z 型透反射偏反光顯微鏡是地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金等部門和相關高等院校的專業(yè)實驗儀器。高精度偏光顯微鏡可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影。透反射偏反光顯微鏡配置有石膏λ、云母λ/4試片、石英楔子和移動尺等附件還可用于化工化纖、半導體工業(yè)以及藥品檢驗等領域。
二、系統(tǒng)簡介
透反射偏反光顯微鏡系統(tǒng)是將精密的光學顯微鏡技術、*的光電轉(zhuǎn)換技術、的計算機圖像處理技術地結(jié)合在一起而開發(fā)研制成功的一項高科技產(chǎn)品?？梢燥@示屏上很方便地觀察實時動態(tài)圖像，并能將所需要的圖片進行編輯、保存和打印。
三、偏反光顯微鏡技術參數(shù)：
1.目鏡：
| 類 別 | 放大倍數(shù) | 視場（mm） |
| 平場目鏡 | 10X | φ22 |
| 十字目鏡 | 10X | φ20 |
2.物鏡：
| 類 別 | 放大倍數(shù) | 數(shù)值孔徑（NA） | 工作距離（mm） | 蓋玻片厚度（mm） |
| 物 鏡 | 4X | 0.10 | 7.18 | - |
| 10X | 0.25 | 4.70 | 0.17 | |
| 40X | 0.65 | 0.72 | 0.17 | |
| 60X | 0.85 | 0.18 | 0.17 |
3.放大倍數(shù)：40X 100X 400X 600X
系統(tǒng)放大倍數(shù)：40X-2600X
4.聚光鏡數(shù)值孔徑：NA1.2/0.22 搖出式消色差聚光鏡，中心可調(diào)
5.起偏鏡：振動方向360°可調(diào)，帶鎖緊裝置，可移動光路
6.檢偏鏡：可移出光路，旋轉(zhuǎn)范圍90°，內(nèi)置勃氏鏡，中心可調(diào)
7.補償器：λ片（Ф18mm，一級紅，光程差551nm）
λ/4片（Ф18mm, 光程差147.3nm）
石英楔子（12x28mm，Ⅰ-Ⅳ級）
8.調(diào)焦系統(tǒng)：帶限位和調(diào)節(jié)松緊裝置的同軸粗微動，微動格值 0.002mm
9.電光源：6V/20W 鹵素燈（亮度可調(diào)）
10.防霉：*的防霉系統(tǒng)
系統(tǒng)放大倍數(shù)：40X-2600X
4.聚光鏡數(shù)值孔徑：NA1.2/0.22 搖出式消色差聚光鏡，中心可調(diào)
5.起偏鏡：振動方向360°可調(diào)，帶鎖緊裝置，可移動光路
6.檢偏鏡：可移出光路，旋轉(zhuǎn)范圍90°，內(nèi)置勃氏鏡，中心可調(diào)
7.補償器：λ片（Ф18mm，一級紅，光程差551nm）
λ/4片（Ф18mm, 光程差147.3nm）
石英楔子（12x28mm，Ⅰ-Ⅳ級）
8.調(diào)焦系統(tǒng)：帶限位和調(diào)節(jié)松緊裝置的同軸粗微動，微動格值 0.002mm
9.電光源：6V/20W 鹵素燈（亮度可調(diào)）
10.防霉：*的防霉系統(tǒng)
四、系統(tǒng)組成
電腦型透反射偏光顯微鏡（XPV-400E）： 1、顯微鏡 2、適配鏡 3、攝像器(CCD) 4、A/D(圖像采集) 5、計算機
數(shù)碼相機型透反射偏光顯微鏡（XPV-400Z）：1、顯微鏡 2、適配鏡 3、數(shù)碼相機
數(shù)碼相機型透反射偏光顯微鏡（XPV-400Z）：1、顯微鏡 2、適配鏡 3、數(shù)碼相機
五、選購件
1、高像素成像系統(tǒng) 2.偏光顯微鏡分析軟件 3.物鏡：20X
