“ 上海析譜” 研發(fā)生產(chǎn)的X3PCSR型可見(jiàn)分光光度計(jì)是一款具有多種大型高級(jí)儀器功能的智能型可見(jiàn)分光光度計(jì)。儀器具有自動(dòng)化程度高，功能豐富，可塑性強(qiáng)等特點(diǎn)。隨機(jī)標(biāo)配一份具有多種應(yīng)用功能的X3PCSR應(yīng)用軟件您就能得到適合于您個(gè)性化要求的樣品分析解決方案。無(wú)論您工作在那個(gè)行業(yè)，都能得到一份“上海析譜”精心為您設(shè)計(jì)的解決方案! 還增加了,(透射測(cè)量,反射測(cè)量2套軟件;2套附件(大平片測(cè)試附件、反射附件)，滿足不同行業(yè)的需求.
1. 寬大的樣品室，可容納5—100mm各種規(guī)格的比色皿；190*120mm大平片導(dǎo)航觸摸屏的反射透射都可量;
2. 設(shè)計(jì)的光學(xué)系統(tǒng)、高性能全息光柵和接收器確保儀器具有優(yōu)良的性能指標(biāo)；
3. 采用單機(jī)操作，線性回歸方程測(cè)量等；
4. 應(yīng)用*新的微機(jī)處理技術(shù)使操作更為方便
5.波長(zhǎng)，調(diào)零全自動(dòng)，波長(zhǎng)*小間隔0.1nm
6.配2套上層軟件，
A透射測(cè)量覆蓋所有功能，光譜掃描、時(shí)間掃描、DNA專用測(cè)試、多波長(zhǎng)測(cè)試、標(biāo)準(zhǔn)曲線測(cè)試等，并且使數(shù)據(jù)儲(chǔ)存達(dá)到無(wú)限。
B反射測(cè)量，剩余反射測(cè)量裝置及測(cè)量軟件。
波長(zhǎng)范圍：325-1100nm
光譜帶寬：1,2,4,5nm狹縫自動(dòng)可變
圓形樣品*小測(cè)試φ2反射率樣品
波長(zhǎng)準(zhǔn)確度：±0.5nm
波長(zhǎng)重復(fù)性：0. 2nm
光度準(zhǔn)確度：±0.5%T
光度重復(fù)性：0.2%T
雜散光：0.1%T（360nm處）
穩(wěn)定性：±0.001A/h(500nm處)
顯示方式：液晶顯示器
*小分辨率0.1nm
吸光度范圍：-0.3-3.0A，0-200%T
檢測(cè)器： 進(jìn)口硅光二極管
光源： 進(jìn)口品牌鎢燈
鍵盤(pán)： 觸摸式按鍵
數(shù)據(jù)輸出： RS-232標(biāo)準(zhǔn)接口 /USB接口
打印輸出： 并口
電源： AC 220V/50Hz 或 110V/60Hz
儀器尺寸： 470*380*200mm
機(jī)重量： 13kg
潛水鏡片，導(dǎo)航觸摸屏、手機(jī)攝像頭、隱形眼鏡片，光學(xué)鍍膜件通過(guò)儀器(反射軟件)反射率測(cè)量/透射率測(cè)量后才能準(zhǔn)確修正物理膜系。
X3PCSR掃描圖譜(剩余反射圖譜)
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