Nanosurf LensAFM鏡頭式原子力顯微鏡
擴展您光學(xué)顯微鏡的分辨率
Nanosurf LensAFM 是一個當(dāng)光學(xué)顯微鏡和輪廓儀達到其分辨率極可以幫您繼續(xù)探究的原子力顯微鏡。它可以像常規(guī)物鏡一樣安裝，從而無縫擴展了這些光學(xué)儀器的分辨率和測量能力。 LensAFM不僅提供3D表面形貌信息，還可用于分析被測樣品的各種物理特性。
用你常用的儀器進行AFM測量
在越來越多的情境下，研究人員希望結(jié)合光學(xué)和原子力顯微鏡技術(shù)。光學(xué)顯微鏡的易用性，篩選能力和（無）樣品制備要求幾乎是的。然而，有時目標(biāo)放大100倍的是不夠的，您想更仔細地觀察一些超出儀器分辨率的微小特征。在常規(guī)實驗室環(huán)境中，您需要兩個專用儀器，并且有必要將樣品從一個設(shè)備轉(zhuǎn)移到另一個設(shè)備。 使用LensAFM則不必如此。憑借其極小的設(shè)計和巧妙的安裝機制，您需要做的就是旋轉(zhuǎn)光學(xué)顯微鏡或輪廓儀上的轉(zhuǎn)盤并運行掃描。
LensAFM將地集成到您的工作流程中：將其安裝在光學(xué)顯微鏡的轉(zhuǎn)盤上 - 就像常規(guī)物鏡一樣 - 您可以使用正常物鏡選樣品以找到感興趣的區(qū)域。隨后，使用集成的8倍光學(xué)鏡頭可以再次定位該區(qū)域，然后您可以執(zhí)行AFM測量以獲得更高分辨率的3D信息：以您慣有的方式工作，分辨率和功能卻得到極大提升。
LensAFM具有快速卸載機制，可輕松地將LensAFM安裝到轉(zhuǎn)臺和從轉(zhuǎn)臺卸下。可調(diào)安裝保證您可以以高于10μm的精度更換它。芯片安裝座上的對準(zhǔn)凹槽還可確保下一個微懸臂的位于相同位置的4μm范圍內(nèi)，即使在微懸臂更換后也能再次回到相同的特征值。由于這些對準(zhǔn)凹槽，您甚至不需要在微懸臂上執(zhí)行激光對準(zhǔn)，從而節(jié)省了額外的時間。
LensAFM 為您的光學(xué)顯微鏡帶來了所有這些測量功能，無需重新思考一整個新的工作流程。觀看視頻，了解提升您的顯微能力是多么容易。
提升光學(xué)顯微鏡的能力
由于光學(xué)顯微鏡的分辨率受光的波長限制，因此光學(xué)系統(tǒng)在可實現(xiàn)的分辨率上有一個極限。在越來越多的應(yīng)用中，就需要光學(xué)和原子力顯微鏡的組合。此外，AFM可以無障礙表征透明樣品或其他難以光學(xué)評估的樣品。且不僅僅是樣品的形貌：AFM還允許獲得其他材料特性的知識，例如，表面粗糙度，硬度變化，磁性或電導(dǎo)/電阻。
LensAFM 成像模式
以下描述為儀器所具備的模式。某些模式可能需要其他組件或軟件選項。詳情請瀏覽產(chǎn)品手冊或直接聯(lián)系我們
標(biāo)準(zhǔn)成像模式
靜態(tài)力模式
動態(tài)力模式(輕敲模式)
相位成像模式
電性能
導(dǎo)電探針 AFM (C-AFM)
壓電力顯微 (PFM)
靜電力顯微 (EFM)
開爾文探針力顯微(KPFM)
掃描擴散電阻顯微 (SSRM)
磁性能
磁力顯微
機械性能
力調(diào)制
力譜
力映射
其他測量模式
刻蝕和納米操縱
LensAFM 應(yīng)用示例
LensAFM /光學(xué)平臺組合提供了一個互補的成像系統(tǒng)，極大地擴展了這些儀器單獨的分辨率和測量能力，如下面的三張圖所示
相同區(qū)域由LensAFM的內(nèi)置8倍物鏡觀察到的光學(xué)視圖。 AFM微懸臂在光學(xué)圖像中可見，允許在測量之前容易地定位樣品。
由LensAFM記錄的同樣缺陷的AFM形貌。該區(qū)域的三維數(shù)據(jù)清楚地識別出該缺陷為涂層上的一個洞，部分被碎屑填充。
