自 2006 年推出以來(lái),Thermo Scientifific? K-Alpha? XPS 能譜儀為表面分析提供了全新的方法。 K-Alpha 能譜儀采用簡(jiǎn)化的工作流程,致力于提供高質(zhì)量結(jié)果,使 XPS 的操作變得簡(jiǎn)單而直觀,并且不會(huì)損失性能和 XPS 功能。
現(xiàn)在,Thermo Scientifific? K-Alpha? X 射線光電子能譜 (XPS) 系統(tǒng)升級(jí)了核心 XPS 性能,具有更快的數(shù)據(jù)采集速度、更好的檢測(cè)能力和更簡(jiǎn)單化學(xué)態(tài)分辨分析。新硬件功能(如 XPS SnapMap)與全新的軟件功能整合,有助于進(jìn)行能譜識(shí)別。 此外還有新的選件可供選擇,包括全自動(dòng)紫外光電子能譜 (UPS)、真空傳送模塊和 ThermoScientifific? MAGCIS? 離子源,開(kāi)啟了實(shí)驗(yàn)新契機(jī)。