X射線晶體探傷儀主要用于研究物質(zhì)內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)。如:?jiǎn)尉Фㄏ颉z驗(yàn)缺陷、物質(zhì)定性、測(cè)定點(diǎn)陣參數(shù)、測(cè)定殘余應(yīng)力等。
X射線晶體探傷儀的技術(shù)參數(shù):
1、管電壓:10~60KV由單片機(jī)自動(dòng)控制(1KV/step);
2、管電流:5~80mA由單片機(jī)自動(dòng)控制(1mA/step);管電壓、管電流穩(wěn)定度≤0.3‰
3、額定輸出功率:3KW
有無(wú)壓、無(wú)流、過(guò)壓、過(guò)流、過(guò)功率、無(wú)水、X光管超溫保護(hù)。
4、冷卻裝置:
自帶制冷系統(tǒng),無(wú)需外接水循環(huán),并自動(dòng)控制水溫及顯示X光管溫度。
5、防護(hù)罩:外射線計(jì)量不大于2.5μSv/h
6、X光管:額定功率2KW(銅靶)
7、定時(shí):?jiǎn)纹瑱C(jī)自動(dòng)定時(shí),定時(shí)時(shí)間任意選擇。