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產(chǎn)品參數(shù)
產(chǎn)品編號(hào): SM-IT510所屬品牌: JEOL產(chǎn)品型號(hào): SM-IT510 額定功率：按實(shí)際方案提供所屬類(lèi)別: 掃描電鏡所屬用途: 金相組織觀察應(yīng)用領(lǐng)域:產(chǎn)品特性: 只需選擇目標(biāo)視野,“簡(jiǎn)單 SEM”支持日常工作下載相關(guān)資料
日本電子JSM-IT510 InTouchScope™ 掃描電子顯微鏡
- JSM-IT510 InTouchScope™ 掃描電子顯微鏡
- 掃描電子顯微鏡 (SEM) 不僅是開(kāi)展科研工作所的工具，
- 對(duì)于需要品控的制造工廠也是的。 在這些場(chǎng)景中，
- 用戶需要重復(fù)執(zhí)行相同的觀察操作，因此快速完成這些操作有助于提高工作效率。
- JSM-IT510 新增的“簡(jiǎn)單 SEM”功能，用戶可將 SEM 觀察所需的“手動(dòng)重復(fù)操作交給它”，
- 從而更高效、更輕松地完成 SEM 觀察。
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NEW 簡(jiǎn)單 SEM
只需選擇目標(biāo)視野
“簡(jiǎn)單 SEM”支持日常工作
樣品交換導(dǎo)航
從樣品交換引導(dǎo)至自動(dòng)觀察 安全簡(jiǎn)單！
1. 按照導(dǎo)航指南設(shè)置樣品
2. 準(zhǔn)備抽真空觀察
*1 樣品臺(tái)導(dǎo)航系統(tǒng)（SNS）是選配件
*2 大區(qū)域樣品臺(tái)導(dǎo)航系統(tǒng)（SNSLS）是選配件
*3 樣品室相機(jī)（CS）是選配件
3. 自動(dòng)開(kāi)始觀察
真空完成后自動(dòng)成像
實(shí)時(shí)分析/實(shí)時(shí)引導(dǎo)圖*2
1. SEM觀察的同時(shí)掌握該區(qū)域的元素組成
實(shí)時(shí)分析是一項(xiàng)在圖像觀察期間實(shí)時(shí)顯示 EDS 光譜或元素圖的功能。此功能支持搜索目標(biāo)元素并提供警示。
2. 簡(jiǎn)單分析
最多點(diǎn)擊3次即可開(kāi)始EDS分析
多種高級(jí)選項(xiàng)
1. NEW 低真空混合二次電子探測(cè)器（LHSED）*
該新型探測(cè)器可以收集電子和光子信號(hào)，并提供具有高信噪比和增強(qiáng)形貌信息的圖像
2. NEW 實(shí)時(shí)3D*
新多向分割BE探測(cè)器*獲得的圖像可以顯示為實(shí)時(shí)3D圖像。
即使樣品具有細(xì)微的表面起伏，實(shí)時(shí)3D也可以直觀的將其清晰的表現(xiàn)出來(lái)，并獲取其深度信息。
3. 蒙太奇
蒙太奇功能可以自動(dòng)獲取多個(gè)小視野的圖像并將這些圖像拼接成一張更大視野的圖像。
4. 顯示信號(hào)深度
此功能實(shí)時(shí)顯示被測(cè)樣品的分析深度（近似數(shù)值），對(duì)元素分析非常有用。
主要可選項(xiàng)
1. 背散射電子探測(cè)器BED
2. 低真空混合二次電子探測(cè)器LHSED
3. 低真空二次電子檢測(cè)器LVSED
4. 能譜儀EDS
5. 波譜儀WDS
6. 電子背散射衍射圖樣EBSD
7. 真空預(yù)抽室LLC
8. 樣品臺(tái)導(dǎo)航系統(tǒng)SNS
9. 大區(qū)域樣品臺(tái)導(dǎo)航系統(tǒng)SNSLS
10. 樣品室相機(jī)CS
11. 操作面板OP2
12. LaB6電子槍
13. 3D分析軟件SVM
