產(chǎn)品介紹：

由于集成電路集成度以及時(shí)鐘速率的不斷提高，PCB板上存在大量雜散場(chǎng)和雜散電流，并以磁場(chǎng)形式相互耦合，導(dǎo)致產(chǎn)生GHz以上級(jí)別的輻射騷擾。由于PCB板上大量安裝高密度SMD器件，只有使用高分辨率探頭，才能真正找出電磁干擾的問(wèn)題所在。

OI-IC系列無(wú)源近場(chǎng)探頭如果安裝在OI-EAS系列EMI掃描儀上，配套相應(yīng)自動(dòng)測(cè)試軟件和干擾接收機(jī)，可實(shí)現(xiàn)對(duì)PCB板上布線、元器件或IC引腳的電磁泄漏場(chǎng)的自動(dòng)掃描測(cè)試。

在任何PCB板上，很少存在純粹的電場(chǎng)或磁場(chǎng)輻射。分別使用電場(chǎng)和磁場(chǎng)兩種探頭，來(lái)了解騷擾的本質(zhì)，并確定導(dǎo)致該問(wèn)題的根本原因，這些對(duì)于排查騷擾十分重要。一般情況下，磁場(chǎng)泄露是由于PCB板走線、線纜等導(dǎo)致的，而電場(chǎng)泄露則是由相鄰走線和信號(hào)平面之間的電壓差造成的。不同信號(hào)路徑設(shè)計(jì)將會(huì)導(dǎo)致不同區(qū)域內(nèi)不同類(lèi)型電場(chǎng)或磁場(chǎng)占主導(dǎo)地位；因此，同時(shí)具備觀測(cè)以上兩個(gè)方面場(chǎng)的分析功能，能夠在測(cè)量分析過(guò)程中帶來(lái)更多的靈活性。

根據(jù)近場(chǎng)探頭探測(cè)場(chǎng)強(qiáng)量的不同，OI-IC系列近場(chǎng)探頭分為電場(chǎng)探頭（OI-ICE40）和磁場(chǎng)探頭（OI-ICH40）。

OI-ICE40是一款頻率高達(dá)40GHz，用于測(cè)量電場(chǎng)強(qiáng)度的無(wú)源近場(chǎng)探頭。測(cè)量頭通過(guò)特殊的阻尼系統(tǒng)與電纜屏蔽層分離。此外，探頭還包含一個(gè)電流衰減器。近場(chǎng)探頭的特殊探頭可直接在單個(gè)導(dǎo)體軌道上進(jìn)行測(cè)量，以定位E場(chǎng)源。

產(chǎn)品參數(shù)：

校準(zhǔn)因子（dB）曲線圖