高低溫老化房

 高低溫老化房具有如下性能特點(diǎn)：
本試驗(yàn)箱結(jié)構(gòu)采用無(wú)夾套、組合式的設(shè)計(jì)思路，具有簡(jiǎn)潔的外觀，理想的拼裝方式，緊湊的箱體結(jié)構(gòu)，維修使用極為方便。
本試驗(yàn)箱外殼采用冷軋薄鋼板，表面噴塑處理，美觀大方，經(jīng)久耐用。內(nèi)膽工作室采用了不銹鋼板，內(nèi)表面平整、清潔。工作室右側(cè)配有循環(huán)裝置、加熱器、制冷蒸發(fā)器等部件，頂部配有一對(duì)鼓風(fēng)電機(jī)，使冷熱空氣循環(huán)進(jìn)出工作室，以保證工作室溫度要求。
本試驗(yàn)箱的制冷系統(tǒng)安裝于主箱體右側(cè)，制冷機(jī)組采用性能良好的進(jìn)口機(jī)組，安裝方便，性能可靠。
試驗(yàn)箱設(shè)兩道密封裝置，密封性能良好；且配有大尺寸的觀察窗便于觀察試樣物品的試驗(yàn)情況，觀察窗密封性能良好。
高低溫老化房控制方式與特色：
平衡調(diào)溫控制系統(tǒng)，以P.I.D.方式控制SSR，使系統(tǒng)之加熱加濕量等于濕熱損耗量，故能長(zhǎng)期穩(wěn)定的使用。

步入式高低溫濕熱試驗(yàn)室執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)

測(cè)試方法 1. GB2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫

 2. GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫

 3. GJB150.3A-2009 高溫試驗(yàn)方法

 4. GJB150.4A-2009 低溫試驗(yàn)方法

 5. GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

6. GB2423.1-2008/1EC6008-2-1-2007 低溫試驗(yàn)方法

7. GB/T2423.2-2008 高溫試驗(yàn)方法

8. GJB150.3A-2009 高溫試驗(yàn)方法

9. GJB150.4A-2009 低溫試驗(yàn)方法

10. GB2423.22-2008 溫度變化速率試驗(yàn)方法

11. GBT2424.5-2006 溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)

12. GB/T10586-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

13. GB/T2423.3-2008(1EC68-2-3) 恒定濕熱試驗(yàn)方法

14. GJB150.9A-2009 濕熱試驗(yàn)方法

15. G/BT2423.4-2008/1EC6008-2-30:2005 交變濕熱方法

16. GB/T5170.18-2005 試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法

17. GB/T10586-2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件

18. GBT2424.6-2006 溫度濕度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)

19. GBT2424.7-2006 (帶負(fù)載)溫度試驗(yàn)箱測(cè)量