EK2000-Pro是一款科研領域和工業(yè)研究領域的便攜式微型光纖光譜儀。該系列光譜儀采用面陣背照式CCD探測器，的交叉光路設計，具有高靈敏度、高量子化效率和高動態(tài)范圍的特點，并且能夠響應至深紫外波段。該系列光譜儀多用于微弱光的檢測，如熒光檢測等。
產品參數(shù)
- 探測器
| 參數(shù) | 指標 |
| 探測器名稱 | Hamamatsu S10420 |
| 探測范圍 | 200~1100 nm |
| 像素數(shù)量 | 2048 x 64 |
| 構架 | 面陣背照式 |
| 探測器面積 | 高0.896 mm，寬28.672 mm |
| 阱深 | 200 ke- |
| 峰值量子化效率 | 75% |
| QE@250 nm | 65% |
| 雜散光 | ＜0.05%@600 nm；＜0.10%@435 nm |
- 光譜特性
| 參數(shù) | 指標 |
| 波長范圍 | 視光柵而定 |
| 信噪比 | 450:1 |
| A/D位數(shù) | 16 bits,500 KHZ |
| 非線性度 | ~4.0% |
| 動態(tài)范圍 | 10000:1 |
| 積分時間 | 最小積分時間7ms |
| 雜散光 | 0.2% @ 602 nm |
| 矯正線性度 | > 99% |
Ø USB2.0 @ 480 Mbps接口，USB供電
Ø 微型化，便于攜帶與系統(tǒng)集成
Ø 面陣背照式FFT-CCD
Ø 寬譜段效率均衡，最寬范圍可達200~1100 nm
Ø 的內部交叉光路設計，有效地抑制雜散光的形成
Ø 光學分辨率可至~0.035 nm（FWHM）
Ø 可選消高階濾光片用于濾除二階及三階光譜峰
Ø 可選探測器聚光鏡，用于增強信號收集
型號說明
| 型號 | 說明 |
| EK2000-Pro | 依賴光柵選擇不同波段 |
| EK2000-Pro-EX | 全波段200~1100 nm |
