X熒光光譜儀的優(yōu)勢:
1、制樣簡單:通常情況下是物理制樣。試樣經(jīng)過簡單的破碎、研磨成粉末壓片或熔融制成;
2、分析范圍廣:理論上從元素Be到92號元素鈾均可進行分析;
3、測量范圍寬:從0.001%到均可進行分析。
X熒光光譜儀是一種較新型的可以對多元素進行同時測定的儀器,在X射線激發(fā)下,被測元素原子的內(nèi)層電子發(fā)生能級躍遷而發(fā)出次級X射線(即X熒光),波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩個物理量。
X熒光光譜儀是一種的、非破壞式的物質(zhì)測量方法,X射線熒光是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發(fā)出的次級X射線,這種現(xiàn)象被廣泛用于元素分析和化學(xué)分析,特別是在金屬,玻璃,陶瓷和建材的調(diào)查和研究,地球化學(xué),法,考古學(xué)和藝術(shù)品,例如油畫和壁畫。
X熒光光譜儀是一種無損的,應(yīng)用廣泛的光譜分析儀器,X熒光光譜儀由激發(fā)源和探測系統(tǒng)構(gòu)成,X射線管產(chǎn)生入射X射線,激發(fā)被測樣品,受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線,并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。
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