MC-2000D涂層測(cè)厚儀是一款便攜式磁性涂鍍層測(cè)厚儀，涂層測(cè)厚儀又稱(chēng)鍍層測(cè)厚儀，漆膜測(cè)厚儀，油漆測(cè)厚儀，涂鍍層測(cè)厚儀，電鍍層測(cè)厚儀，薄膜測(cè)厚儀，覆層測(cè)厚儀，電鍍測(cè)厚儀等，該儀器采用磁感應(yīng)測(cè)厚原理，可以無(wú)損的測(cè)量出磁性基體上非導(dǎo)磁涂覆層材料的厚度。磁感應(yīng)方法可用來(lái)精確測(cè)量所有磁性基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)表面上非磁性涂鍍層，例如：油漆層，瓷、搪瓷防護(hù)層，塑料、橡膠覆層，合成材料，包括各種有色金屬鉻、鋅、鉛、鋁、錫、鎘電鍍層或磷化層，瓷，琺瑯，氧化層等。以及化工石油作業(yè)的各種防腐涂層。

  磁性涂層測(cè)厚儀原理：采用磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來(lái)測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來(lái)表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測(cè)厚儀，原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當(dāng)軟芯上繞著線圈的測(cè)頭放在被測(cè)樣本上時(shí)，儀器自動(dòng)輸出測(cè)試電流或測(cè)試信號(hào)。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭，測(cè)量感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)的大小，儀器將該信號(hào)放大后來(lái)指示覆層厚度。近年來(lái)的電路設(shè)計(jì)引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補(bǔ)償?shù)鹊匦录夹g(shù)，利用磁阻來(lái)調(diào)制測(cè)量信號(hào)。還采用設(shè)計(jì)的集成電路，引入微機(jī)，使測(cè)量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高（幾乎達(dá)一個(gè)數(shù)量級(jí)）?，F(xiàn)代的磁感應(yīng)測(cè)厚儀，分辨率達(dá)到0.1um，允許誤差達(dá)1%，量程達(dá)10mm。 

   磁性涂鍍層測(cè)厚儀應(yīng)用范圍：可以方便無(wú)損地測(cè)量鐵磁材料上非磁性涂層的厚度，如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻等鍍層或油漆、搪瓷、玻璃鋼、噴塑、瀝青等涂層的厚度。該涂層測(cè)厚儀器廣泛應(yīng)用于機(jī)械、汽車(chē)、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。

  MC-2000D型涂（鍍）層測(cè)厚儀儀器特點(diǎn)： MC-2000D涂層測(cè)厚儀（鍍層測(cè)厚儀）測(cè)量范圍：10～9000μm，它是的結(jié)晶,它采用單片機(jī)技術(shù)，精度高、可靠性高、數(shù)字顯示、示值穩(wěn)定、功耗低、操作簡(jiǎn)單方便、觸摸按鍵、單探頭全量程測(cè)量、體積小、重量輕；且具有存儲(chǔ)、讀出、統(tǒng)計(jì)、低電壓指示、系統(tǒng)校準(zhǔn)。

  MC-2000D涂層測(cè)厚儀圖片：

  MC-2000D型涂層測(cè)厚儀主要技術(shù)性能：

　　1、測(cè)量范圍：10~9000um

　　2、測(cè)量誤差：<>

　　3、最小示值：1um

　　4、顯示方式：4位液晶數(shù)字顯示

　　5、主要功能：

　?。?）測(cè)量：?jiǎn)翁筋^全量程測(cè)厚

　?。?）存儲(chǔ)、刪除：可存入測(cè)量數(shù)據(jù)600個(gè)，對(duì)測(cè)量中的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可以刪除存儲(chǔ)區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)。

　?。?）讀：讀出已存入的測(cè)量數(shù)據(jù)

涂層測(cè)厚儀，漆膜測(cè)厚儀，防腐層測(cè)厚儀，涂層測(cè)厚儀價(jià)格，涂層測(cè)厚儀廠家，山東涂層測(cè)厚儀

　?。?）統(tǒng)計(jì)：設(shè)有三個(gè)統(tǒng)計(jì)量，平均值值最小值

　?。?）校準(zhǔn)：可進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)

　?。?）電量：具有欠壓顯示功能

　　（7）打?。嚎纱蛴y(cè)量值，選配微型打印機(jī)

　?。?）關(guān)機(jī)：具有自動(dòng)關(guān)機(jī)和手動(dòng)關(guān)機(jī)兩種方法

　　6、電源：兩節(jié)1.5v電池

　　7、功耗：功耗100mw

　　8、外形尺寸：126mm*51mm*27mm

　　9、重量：160g（含電池）

　　10、使用環(huán)境溫度：0℃~＋40℃相對(duì)濕度：不大于90%

　　11、基體最小厚度：0.5mm

　　12、基體最小平面的直徑：7mm

　　13、最小曲率半徑：凸：1.5mm 凹：6mm

　　14、欠電壓指示：右上角顯示＂＂

　　*臨界厚度?。汗ぜF基厚度大于1mm時(shí)，其涂（鍍）層厚度的測(cè)量不受鐵基厚度影響。

  影響MC-2000D型涂層測(cè)厚儀測(cè)量結(jié)果的因素：

　a 基體金屬磁性質(zhì)

　　磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)；亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。

　　b 基體金屬電性質(zhì)

　　基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。

　　c 基體金屬厚度

　　每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見(jiàn)附表1。

　　d 邊緣效應(yīng)

　　本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。

　　e 曲率

　　試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測(cè)量是不可靠的。

　　f 試件的變形

　　測(cè)頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測(cè)出可靠的數(shù)據(jù)。

　　g 表面粗糙度

　　基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測(cè)量時(shí)，在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類(lèi)似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn)；或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對(duì)儀器的零點(diǎn)。

　　g 磁場(chǎng)

　　周?chē)鞣N電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測(cè)厚工作。

　　h 附著物質(zhì)

　　本儀器對(duì)那些妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測(cè)頭和被測(cè)試件表面直接接觸。

　　i 測(cè)頭壓力

　　測(cè)頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。

　　j 測(cè)頭的取向

　　測(cè)頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響。在測(cè)量中，應(yīng)當(dāng)使測(cè)頭與試樣表面保持垂直。

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