日立X-MET8000 Smart 手持式XRF光譜儀 手持式熒光光譜儀
日立X-MET8000 Smart手持式熒光光譜儀(HHXRF)提供進(jìn)行快速的合金等級(jí)鑒定及多種材料（固體和粉末金屬、聚合物、木材、溶液、土壤、礦石、礦物等）的準(zhǔn)確化學(xué)結(jié)構(gòu)分析所需的性能。日立X-MET8000 Smart手持式光譜儀方便、耐用且使用簡單，可為您提供可靠的結(jié)果。日立X-MET8000 Smart手持式光譜儀提供的輕元素 （鎂、鋁、硅、磷、硫、氯）分析，檢測限度低，且可每天提供準(zhǔn)確可靠結(jié)果。通過靈活的基本參數(shù)法(FP)法進(jìn)行分析，從而測試多種材料；或若需結(jié)果可追溯和高度準(zhǔn)確，則使用實(shí)證校準(zhǔn)。
**性能
通過靈活的基本參數(shù)法(FP)法進(jìn)行分析，從而測試多種材料；或若需結(jié)果可追溯和高度準(zhǔn)確，則使用實(shí)證校準(zhǔn)。
操作簡單
大觸摸屏和基于圖標(biāo)的用戶界面，使用戶只需要極少的培訓(xùn)便可開始操作。
符合人體工學(xué)
X-MET8000輕便（僅1.5公斤）、簡潔、平衡性好，可供長時(shí)間使用，而疲勞度*低。
堅(jiān)固耐用而擁有成本低
符合IP54要求（等同于NEMA 3）、防水、防塵的X-MET可供室內(nèi)外使用。
通過MIL-STD-810G耐用標(biāo)準(zhǔn)測試。
其可選的防扎窗口膜可預(yù)防在粗糙表面上測量導(dǎo)致探測器損壞而出現(xiàn)的高昂維修費(fèi)用。
上等數(shù)據(jù)管理
靈活：可將多達(dá)100,000條結(jié)果保存在X-MET上，將報(bào)告輸出到U盤或個(gè)人計(jì)算機(jī)，或自動(dòng)將X-MET數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在LiveData云端。
X-MET8000 Smart
X射線管：40kV
濾光片：單一
檢測器：大面積 SDD
上限樣本溫度：400oC
符合 IP54 等級(jí)
Thick Kapton?窗口：保護(hù)以預(yù)防探測器的窗戶損壞
校準(zhǔn)：基本參數(shù)法(FP)
內(nèi)置攝像頭 （可選）
- X射線管：40kV
- 濾光片：單一
- 檢測器：大面積 SDD
- 上限樣本溫度：400oC
- 符合 IP54 等級(jí)
- Thick Kapton®窗口：保護(hù)以預(yù)防探測器的窗戶損壞
- 校準(zhǔn)：基本參數(shù)法(FP)
- 內(nèi)置攝像頭 （可選）
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