產品用途:用于評估非氣密性封裝IC器件(固態(tài)設備)在高溫高濕條件下的運行可靠性,對芯片、半導體等其他元器件進行溫濕度偏壓(不偏壓)高加速應力壽命老化試驗。
執(zhí)行試驗標準:
GB/T2423.40-1997電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法Cx:不飽和高壓蒸汽的恒定濕熱
IEC60068-2-66-1994環(huán)境試驗.第2-66部分:試驗方法.試驗Cx:穩(wěn)態(tài)濕熱
JESD22-A100循環(huán)的溫度和濕度偏移壽命
JESD22-A101穩(wěn)態(tài)溫度,濕度/偏壓,壽命試驗(溫濕度偏壓壽命)
JESD22-A102高壓蒸煮試驗(加速抗?jié)裥詽B透)
JESD22-A108溫度、偏置電壓和工作壽命
JESD22-A110 HAST高加速溫濕度應力試驗
JESD22-A118溫濕度無偏壓高加速應力實驗UHAST(無偏置電壓未飽和高壓蒸汽)
HAST溫濕度偏壓壽命試驗箱具有以下特點:
高加速性能:HAST試驗箱能夠加速產品老化過程,從而在相對較短的時間內評估其可靠性和壽命。
溫濕度控制:試驗箱配備了溫濕度控制系統(tǒng),能夠精確地調節(jié)和保持所需的溫度和濕度條件。
壓力控制:HAST試驗箱還可以施加一定的氣壓,以模擬產品在高海拔或高壓環(huán)境下的應力情況。
多功能性:除了模擬高溫高濕條件外,HAST試驗箱還可以進行其他類型的加速老化測試,如熱循環(huán)、溫度沖擊等。
數據記錄與分析:試驗箱通常配備了數據記錄和分析系統(tǒng),能夠監(jiān)測、記錄和分析測試過程中的溫濕度等參數變化,為后續(xù)分析提供依據。
HAST溫濕度偏壓壽命試驗箱在電子產品制造、汽車零部件、航空航天等領域得到廣泛應用,能夠幫助評估產品在惡劣條件下的可靠性和壽命,指導產品設計和改進工藝。