菲希爾Fischer Dualscope FMP20 涂鍍層測(cè)厚儀

FMP10、 FMP20、 FMP30、 FMP40涂鍍層測(cè)厚儀 為您提供解決方案
新一代手提式儀器和可更換的探頭可以提供無(wú)損且高 精度的涂鍍層厚度測(cè)量。無(wú)論是生產(chǎn)過(guò)程中的質(zhì)量控 制，還是在來(lái)料檢驗(yàn)中的隨機(jī)抽檢和全檢，我們都會(huì) 提供友好的用戶(hù)體驗(yàn)和多樣的選擇來(lái)滿(mǎn)足您的需求。
由于采用了模塊化設(shè)計(jì)，您可以為您的特殊需求分別 選擇儀器和探頭。對(duì)于儀器，您可以根據(jù)您的應(yīng)用從 的FMP家族（參見(jiàn)右側(cè)表格）中選?。粚?duì)于探頭， 我們?yōu)槟峁┝舜罅扛呔鹊奶筋^，相信一定有一款 適合您

菲希爾Fischer Dualscope FMP20 涂鍍層測(cè)厚儀特殊功能
• 根據(jù)磁感應(yīng)法和（或）電渦流法無(wú)損測(cè)量涂鍍層 厚度。
• 自動(dòng)識(shí)別探頭和基材。
• 堅(jiān)固的外殼及高對(duì)比度大尺寸圖形顯示器。
• 儀器操作簡(jiǎn)單，具備多種統(tǒng)計(jì)評(píng)估能力。
• USB 接口可以連接計(jì)算機(jī)，F(xiàn)MP30-40 還可以連接 打印機(jī)。
• 創(chuàng)新的探頭技術(shù)使得測(cè)量更精確，測(cè)量范圍更廣

您一定能從新的FMP家族中找到適合您的儀器。選擇 儀器的主要標(biāo)準(zhǔn)是涂鍍層的種類(lèi)及其底材的材料，然 后再?zèng)Q定您是要一個(gè)基本款的儀器(FMP10/FMP20)， 亦或是擁有擴(kuò)展的應(yīng)用程式存儲(chǔ)內(nèi)存、大量的圖形和 統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能以及多種測(cè)量選項(xiàng)的機(jī)型(FMP30/ FMP40)。

DELTASCOPE® FMP10 或 FMP30 可以測(cè)量鐵材或鋼材上非鐵磁金屬鍍層的厚度，例 如：鉻、銅、鋅以及涂料、油漆、搪瓷和塑料鍍層。
ISOSCOPE® FMP10 和 FMP30 可以測(cè)量非鐵磁金屬基材上涂料、油漆、塑料涂層和 陽(yáng)極氧化層的厚度。
DUALSCOPE® FMP20 和 FMP40 能夠自動(dòng)識(shí)別底材材料并且集成了兩種測(cè)量方法，使 這個(gè)系列的儀器可以測(cè)量鋼材和鐵材亦或是非鐵磁基 材上的大部分涂鍍層的厚度。由于集合了兩種測(cè)量方 法，這個(gè)系列的儀器還能夠在一次測(cè)量過(guò)程中同時(shí)測(cè) 得兩層涂鍍層的厚度（油漆層/鋅層），并且分別顯示 出來(lái)。涂鍍層測(cè)厚儀 DELTASCOPE® FMP10

涂鍍層測(cè)厚儀 DELTASCOPE® FMP10, ISOSCOPE® FMP10, DUALSCOPE® FMP20功能

• 可以配合所有基于磁感應(yīng)法和渦流法的探頭使用
• 自動(dòng)識(shí)別探頭
• 自動(dòng)識(shí)別底材 (FMP20)
• 儀器操作界面友好
• USB接口可以連接計(jì)算機(jī)
• 240x160像素高對(duì)比度大尺寸顯示屏
• 開(kāi)機(jī)后即可測(cè)量 • 插入探頭即可測(cè)量
• 測(cè)量完成后聲音提示
• 通過(guò)簡(jiǎn)單的零位修正就能適應(yīng)底材形狀(歸一化)
• 校準(zhǔn)簡(jiǎn)便(使用一到兩片箔片)
• 針對(duì)罕見(jiàn)材料或者形狀復(fù)雜的產(chǎn)品設(shè)置主校準(zhǔn)模式 (需配合主校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片使用)
• 可以調(diào)節(jié)儀器自動(dòng)關(guān)機(jī)時(shí)間和連續(xù)使用時(shí)間
• 儀器狀態(tài)顯示(例如：電量低時(shí)出現(xiàn)的警告信息)
• 鍵盤(pán)鎖/功能限制模式
• 滑蓋保護(hù)鍵盤(pán)
• 多語(yǔ)言顯示
• 測(cè)量結(jié)果的單位可在μm和mils之間切換

應(yīng)用程式存儲(chǔ)
• 可以?xún)?chǔ)存一個(gè)應(yīng)用程式，包括校準(zhǔn)信息。
統(tǒng)計(jì)和計(jì)算
• 顯示統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，例如：平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、 和最小值、讀數(shù)范圍。
測(cè)量方式
• 單次測(cè)量
• 用“連續(xù)測(cè)量”模式測(cè)量可以對(duì)樣品表面進(jìn)行 連續(xù)掃描。