精密離子減薄儀用于高質(zhì)量TEM樣品的制備,它可精確定位減薄位置并對工藝參數(shù)進(jìn)行精確控制。
· 使用 X、Y 樣品臺來把減薄區(qū)域精確定位到離子束交叉點
· 改進(jìn)低電壓性能的離子槍,有用電壓低至 100 伏,從而快速安全地對 FIB 制備的TEM樣品進(jìn)行拋光
· 利用 DigitalMicrograph® 軟件和光學(xué)數(shù)碼顯微鏡進(jìn)行圖像存儲和分析
· 10 英寸彩色觸摸屏可用于顯示和控制所有 PIPS™ II 參數(shù)