設(shè)備介紹
X射線衍射儀Ultima IV系列是一種高性能多功能的粉晶X射線衍射儀,它采用了理學(xué)的CBO交叉光學(xué)系統(tǒng),可以進(jìn)行從普通粉末樣品到包括In-Plane在內(nèi)的薄膜樣品測(cè)試。不需要重新設(shè)置,適合多種樣品的各種測(cè)試。
儀器型號(hào)
日本理學(xué) UltimaIV
技術(shù)參數(shù)
- 光路系統(tǒng)CBO交叉光路
- X-射線光管Cu靶
- X-射線發(fā)生器輸出功率3000W
- 測(cè)角儀水平測(cè)角儀,最小步進(jìn)為1/10000度
- 旋轉(zhuǎn)光管在線焦斑和點(diǎn)焦斑應(yīng)用之間輕松快捷地進(jìn)行免對(duì)準(zhǔn)切換
案例展示
應(yīng)用范圍
X射線衍射儀是適合測(cè)試粉末樣品、塊狀固體等,主要應(yīng)用于混合物相的定性分析;樣品的對(duì)照分析;晶體物相的半定量分析;材料晶體結(jié)構(gòu)的表征分析;結(jié)晶度分析等,面向化學(xué)、藥物、材料、農(nóng)林、化工、環(huán)境、生化、礦物、地質(zhì)、冶金、半導(dǎo)體等領(lǐng)域。