聯(lián)系:18.12.3.91.4.6.8.6
一、JIMA RT RC-05B 分辨率測(cè)試卡詳細(xì)介紹:
JIMA RT RC-05B是一款采用最1新半導(dǎo)體光刻技術(shù)制作的微型分辨率測(cè)試卡。它用于校準(zhǔn)和監(jiān)控系統(tǒng)分辨率,確保微焦點(diǎn)或納米焦點(diǎn)X射線檢測(cè)系統(tǒng)獲得高質(zhì)量的結(jié)果。
JIMA RT RC-05B支持3微米至50微米(3 µ m至50 µ m)的分辨率。這對(duì)應(yīng)于6微米和100微米(6 µ m和100 µ m)之間的焦斑尺寸。