FPTOH-TOHOSPEC3100 薄膜測厚儀

參考價: 面議

具體成交價以合同協(xié)議為準

型號FPTOH-TOHOSPEC3100
品牌
所在地
更新時間2023-09-12

孚光精儀（中國）有限公司

廠商性質經(jīng)銷商
入駐年限第1年
實名認證已認證
產(chǎn)品數(shù)量1482
人氣值8072

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薄膜測厚儀TohoSpec3100是高精度薄膜厚度測量系統(tǒng),采用小光斑光譜反射計獲得薄膜厚度信息,可靠的固態(tài)線性二極管陣列可快速、精確地測量單層薄膜，如氧化物、氮化物和光刻膠，以及厚度范圍為100至30m的多達3層薄膜堆疊的頂層

薄膜測厚儀產(chǎn)品詳情

薄膜測厚儀TohoSpec 3100是高精度薄膜厚度測量系統(tǒng),采用小光斑光譜反射計獲得薄膜厚度信息,可靠的固態(tài)線性二極管陣列可快速、精確地測量單層薄膜，如氧化物、氮化物和光刻膠，以及厚度范圍為100Å至30µm的多達3層薄膜堆疊的頂層。
該薄膜測厚儀系統(tǒng)具有的價值，配有多達15種標準薄膜厚度測量算法，在世界各地的實驗室中使用，以緊湊的設計提供精確的薄膜厚度測量。
薄膜測厚儀應用
大量應用中提供精確的薄膜厚度測量。保證3層測量，在某些情況下根據(jù)參數(shù)超過3層。測量具有一定反射率的***光滑或半光滑表面
LED,太陽能，F(xiàn)PD/LCD，OLED，Photomask，電源設備，SOI,HDD磁頭等。
薄膜測厚儀規(guī)格參數(shù)
薄膜層數(shù)：***多3層
波長范圍：380-800nm
重復精度：2 Å
薄膜類型：可測
n&k數(shù)值：可測
測量時間：0.1-25秒
可測薄膜厚度：100Å~30um
可測晶圓尺寸：3,4,5,6,8英寸

關鍵詞：測厚儀標準

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