45MG儀器是一款帶有各種標準測量功能和軟件選項的超聲測厚儀。這款儀器與Olympus雙晶和單晶測厚探頭兼容，可用于測厚應用。
標準功能
45MG儀器在使用基本配置時，是一款易懂易學、操作簡便的測厚儀，操作人員經(jīng)過最基本的培訓，就可完成常用的測厚應用。不過，45MG儀器添加了可選軟件選項和探頭后，就會變成一款測厚儀，可以進行典型的初級儀器不能完成的應用。此外，大多數(shù)選項可以在購買儀器時分別購買，或在日后需要時購買。
l 與Olympus雙晶探頭兼容，可對內(nèi)部腐蝕的金屬的厚度進行測量
l *小值/*大值模式
l 兩個報警模式
l 差值模式
l 時基B掃描
l 縮減率
l 增益調(diào)整（標準、高、低）
l 密碼式儀器鎖定
帶有可選橡膠保護套和支架的45MG儀器
抵御惡劣環(huán)境的能力
l 堅固耐用，設計符合IP67標準。
l 爆炸性氣氛：可在（NFPA 70）500節(jié)I級2分段D組規(guī)定的爆炸性氣氛環(huán)境中安全操作，并且通過了MIL-STD-810G方法511.4程序I中規(guī)定的測試。
l 防撞擊測試：通過了MIL-STD-810G方法516.5程序I中規(guī)定的測試，每軸6個循環(huán)，15 g，11 msec半弦波。
l 防振動測試：通過了MIL-STD-810G方法514.5程序I附錄C圖6中的測試，一般暴露：每軸1小時。
l 寬泛的操作溫度范圍
l 可選的帶有支架的橡膠保護套
簡便操作的設計理念
l 可只用右手或左手操作的簡潔的鍵區(qū)
l 可直接訪問大多數(shù)功能的簡便易行的操作界面
l 使用內(nèi)置MicroSD存儲卡和可插拔MicroSD存儲卡的存儲方式
l USB通訊端口
l 可存儲475000個厚度讀數(shù)或20000個波形的可選字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器
l 默認或自定義單晶探頭設置（可選）
l 密碼保護方式的儀器鎖定
l 彩色透反QVGA顯示，帶有室內(nèi)和室外顏色設置，具有清晰度
可選功能
只需幾次按鍵，即可完成從簡單腐蝕測厚儀到多功能測厚儀的華麗變身。45MG測厚儀提供需密碼激活的5個軟件選項，從而躋身于工業(yè)領域中用途的測厚儀行列。
回波到回波/穿透涂層：使用回波到回波選項，儀器屏幕上會顯示金屬的實際厚度，而涂層的厚度會被忽略。穿透涂層選項測量金屬厚度與非金屬涂層的厚度，這兩個厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此，在進行厚度測量時，無需去掉材料表面的漆層或涂層。
單晶： 這個選項可對很多材料，如：金屬、塑料、復合材料、玻璃及陶瓷，進行的厚度測量。這個選項可與范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。
單晶高穿透：這個選項可對較厚或衰減性較高的材料，如：玻璃纖維或鑄造金屬，進行厚度測量。可與范圍在0.5 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。這個選項包含單晶選項。
數(shù)據(jù)記錄器：45MG測厚儀帶有一個功能齊全的內(nèi)置雙向字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器，可方便地存儲和傳輸厚度讀數(shù)和波形數(shù)據(jù)。這個選項包含基于Windows的GageView接口程序。
帶有波形調(diào)整功能的實時A掃描： 用戶使用這個可選實時A掃描模式，可以在測厚儀的顯示屏上直接查看超聲波形（或稱A掃描），核查厚度測量讀數(shù)，對增益和空白設置進行手動調(diào)整，以在具有挑戰(zhàn)性的應用中限度地增強測量性能。這個極為有益的選項包含手動增益調(diào)整、擴展空白、回波空白、范圍及延遲參數(shù)。
室內(nèi)顯示設置，可選A掃描模式
室外顯示設置，可選A掃描模式
使用雙晶探頭對腐蝕工件進行測量
45MG測厚儀的一個主要應用是測量那些受腐蝕或侵蝕的管道、管件、箱體、壓力容器、船體外殼及其它結(jié)構(gòu)的剩余厚度。這些應用中使用的是雙晶探頭。
l 用于標準D79X系列雙晶探頭的自動探頭識別功能
l 當校準過程中出現(xiàn)雙回波時，會發(fā)出雙回波警告
l 回波到回波/穿透涂層選項可測量帶有漆層和涂層的表面
l 高溫測量：溫度可高達500 °C]
B掃描成像（基于時間）
45MG儀器提供的B掃描功能，可在屏幕上將實時厚度讀數(shù)轉(zhuǎn)換為橫截面圖像。在觀察材料厚度在一定距離上發(fā)生的變化時，這個標準功能非常有用。探頭一接觸到材料表面，就會激活B掃描。凍結(jié)*小值功能用于顯示掃查區(qū)域的*小厚度值?？蛇x45MG數(shù)據(jù)記錄器*多可存儲單個B掃描中的10000個厚度讀數(shù)。
室內(nèi)顯示設置，B掃描模式
回波到回波/穿透涂層選項
回波到回波
測厚儀使用多個底面回波，顯示不計涂層厚度的實際金屬厚度：
l 自動回波到回波
l 手動回波到回波（僅出現(xiàn)于A掃描選項），可進行以下操作：
? 增益調(diào)整
? 擴展空白
? 回波空白
顯示A掃描的自動回波到回波模式
調(diào)整個回波空白的手動回波到回波模式
高溫表面
45MG測厚儀配上D932系列探頭（D790、D790--SM、D790-RL和D790-SL），是測量高溫材料（溫度高達500 oC）的理想選擇，并可獲得穩(wěn)定的厚度讀數(shù)。45MG的零位補償功能，通過補償探頭延遲塊因熱漂移而產(chǎn)生的溫度變化，提高了在高溫表面上進行測量的精度。
技術(shù)參數(shù)：
測量 | |
雙晶探頭測量模式 | 從激勵脈沖后的延遲到個回波之間的時間間隔。 |
自動回波到回波（可選） | 在兩個連續(xù)底面回波之間的時間間隔，不計漆層或涂層的厚度。 |
穿透涂層測量 （可選） | 利用單個底面回波，測量金屬的實際厚度和涂層厚度（使用D7906-SM和D7906探頭） |
單晶探頭測量模式（可選） | 模式1：激勵脈沖與個底面回波之間的時間間隔。 模式2：延遲塊回波與個底面回波之間的時間間隔（使用延遲塊或水浸式探頭） 模式3：在激勵脈沖之后，位于個表面回波后的相鄰底面回波之間的時間間隔（使用延遲塊探頭或水浸式探頭）。 |
厚度范圍 | 0.080 mm～635 mm（0.003 in.～25.0 in.）視材料、探頭、表面條件、溫度和所選配置而定（要測量的范圍需要使用單晶選項） |
材料聲速范圍 | 0.508 mm/μs～18.699 mm/μs（0.020 in./μs～0.7362 in./μs） |
分辨率（可選擇） | 低分辨率：0.1毫米（0.01英寸） 標準分辨率：0.01毫米（0.001英寸） 單晶選項：0.001毫米（0.0001英寸） |
探頭頻率范圍 | 標準：2.25 MHz～30 MHz（-3 dB）高穿透（單晶選項）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB） |
一般規(guī)格 | |
操作溫度范圍 | -10 °C～50 °C（14 °F～122 °F） |
鍵盤 | 密封、以色彩區(qū)分功能的鍵盤，帶有觸感及聲音反饋 |
機殼 | 防撞擊、防水、裝有密封墊的機殼，機殼上的接口密封。設計符合IP67標準。 |
外型尺寸（寬 x 高 x 厚） | 總體尺寸：91.1 mm x 162 mm x 41.1 mm |
重量 | 430.9克 |
電源 | 3節(jié)AA電池/USB電源供應 |
電池工作時間 | 3節(jié)AA堿性電池：20到21小時 3節(jié)AA鎳氫電池：22到23小時 3節(jié)AA鋰離子電池：35到36小時 |
標準 | 設計符合EN15317標準 |
顯示 | |
彩色透反QVGA顯示 | 液晶顯示，顯示屏尺寸：54.61毫米 x 41.15毫米 |
檢波 | 全波、RF波、正半波、負半波（波形選項） |
輸入/輸出 | |
USB | 2.0從接口 |
存儲卡 | *大容量：2 GB可插拔MicroSD存儲卡 |
內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器（可選） | |
數(shù)據(jù)記錄器 | 45MG通過USB或MicroSD卡識別、存儲、調(diào)用、清除及傳輸厚度讀數(shù)、波形圖像和儀器配置信息。 |
容量 | 475000個厚度測量讀數(shù)，或20000個帶厚度值的波形 |
文件名稱和ID編碼 | 32位字符的文件名，20位字符的字母數(shù)字位碼 |
文件結(jié)構(gòu) | 6個標準的或自定義的用于特定應用的文件結(jié)構(gòu) |
報告 | 機載報告總結(jié)了數(shù)據(jù)統(tǒng)計和*小值/*大值 |
