Horiba動(dòng)態(tài)光散射粒徑分布測(cè)試儀 SZ100
Horiba SZ100可更高靈敏度、高精度地評(píng)價(jià)單一納米粒子（粒子直徑、Zeta電位、分子量測(cè)定）
解析納米粒子的物質(zhì)結(jié)構(gòu)
主要特點(diǎn)：
1. 將解析納米尺寸重要的三要素（粒子直徑、Zeta電位、分子量測(cè)定）的測(cè)定囊括于一身。
2. 從PPM順序的低濃度到百分之幾十的高濃度樣品，都能夠在保持原狀態(tài)下取樣調(diào)查、測(cè)定。
3. 微小容量電泳電池：為獨(dú)自研發(fā)，可以測(cè)定取樣調(diào)查僅100μL的Zeta電位。
4. 適合膠質(zhì)粒子、機(jī)能性納米粒子材料、高分子、膠束、核糖體、納米囊等廣泛應(yīng)用
5. 取樣調(diào)查后，只要按測(cè)定開始按鈕即可，操作簡(jiǎn)單。
Horiba SZ100粒子直徑測(cè)定
超寬動(dòng)態(tài)測(cè)定有效范圍：0.3nm~8000nm
通過采用與NEDO國家項(xiàng)目共同開發(fā)的相關(guān)器，實(shí)現(xiàn)高性能化。
在單一納米粒子專用光學(xué)系統(tǒng)中，采用低角度90度光學(xué)系統(tǒng)。
廣泛測(cè)定樣品濃度范圍
通過采用雙重光學(xué)系統(tǒng)，可以進(jìn)行釉漿、顏料等高濃度樣品以及膠束、聚合物等低濃度樣品的測(cè)定。
Horiba SZ100Zeta電位測(cè)定
通過安裝標(biāo)準(zhǔn)的Horiba自主研發(fā)的微型樣品池，可以測(cè)定僅100μL的樣本。
規(guī)格：
樣式 | SZ-100 |
構(gòu)成 | 分析部主體、PC、打印機(jī) |
粒子直徑計(jì)測(cè)定原理 | 光子相關(guān)法 |
粒子直徑測(cè)定范圍 | 0.3nm~8μ |
粒子直徑測(cè)定精度 | ISO13321基礎(chǔ)規(guī)格 NIST可追蹤單分散聚苯乙烯 每100nm相對(duì)精度±2%（但不包括標(biāo)準(zhǔn)粒子自身個(gè)體） |
分子量測(cè)定原理 | Debye Plot法 |
分子量測(cè)定范圍 | 1 x 103 ~ 2 x 107 Da |
Zeta電位測(cè)定原理 | 電泳激光多普勒法 |
Zeta電位測(cè)定范圍 | -200~+200mV |
樣品電池溫度調(diào)節(jié) | 1.0~90.0℃ |
使用溫度/濕度 | 15~35℃ 85%RH以下（不結(jié)冰） |
電源 | AC100V 50·60Hz 150VA |
外形尺寸 | 527（W）x 385（D）x 273（H）mm |
選項(xiàng) | 21CFR part11軟件、浸漬型樣品池 |
Horiba納米粒度儀SZ100廣泛應(yīng)用于以下領(lǐng)域：
·陶瓷粒子
·金屬納米粒子
·石炭
·制藥
·病毒
·顏料、涂料
·化妝品
·聚合物
·食品
·CMP等等
