便攜式膜厚測(cè)試儀CMI250X射線熒光測(cè)厚儀
深圳市方源儀器提供的便攜式膜厚測(cè)試CMI250X射線熒光測(cè)厚儀有著測(cè)量結(jié)果、日期及時(shí)間、統(tǒng)計(jì)分析等儲(chǔ)存后可通過連接線發(fā)送到您的電腦技術(shù)。該儀器還支持雙功能技術(shù)磁感應(yīng)和渦流感應(yīng),渦流技術(shù)測(cè)量如鋁、黃銅或銅等有色金屬上的非導(dǎo)電涂層:特富龍、搪瓷、環(huán)氧樹脂、陽極氧化膜、粉末涂料、油漆等。磁感應(yīng)技術(shù)用于測(cè)量鋼鐵底材上的非磁性涂層:鋅、鎘、油漆、涂料等。
便攜式膜厚測(cè)試儀CMI250X射線熒光測(cè)厚儀參數(shù):
產(chǎn)品名稱:膜厚測(cè)試儀CMI250 產(chǎn)品型號(hào):CMI250 產(chǎn)品產(chǎn)地:美國(guó) 測(cè)試范圍:0.001-2.04mm(0.1-80mils)、0.001——1.52mm(0.1-60mils) 測(cè)試精度:參考不同的標(biāo)準(zhǔn)片±(2µm+3%讀數(shù)) 測(cè)試時(shí)間:2S 保修時(shí)間:1年 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn): (磁感應(yīng))符合AST M B499和B530、DIN 50981、ISO 2178及BS 5411標(biāo)準(zhǔn)第9和11部分的計(jì)量方法 (渦流感應(yīng))符合AST M B244和B529、DIN 50984、ISO 2360及BS 5411標(biāo)準(zhǔn)第3部分的計(jì)量方法 | |
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì): | |
--自動(dòng)識(shí)別底材 --用戶不必自行校準(zhǔn),但需要時(shí)也可由用戶自行校準(zhǔn) --出廠前已校準(zhǔn)完畢,只需進(jìn)行快捷的基體校正歸零即可測(cè)量不同金屬基板上的涂層厚度 --具有統(tǒng)計(jì)分析報(bào)告功能:(數(shù)據(jù)記錄、平均值、標(biāo)準(zhǔn)差、上下限提醒功能) --測(cè)試數(shù)據(jù)通過USB2.0實(shí)現(xiàn)高速傳輸,并保存為Excel格式文件 --帶有背光的可視顯示屏 --可選的連續(xù)測(cè)量模式 --儲(chǔ)存容量:可進(jìn)行9690次測(cè)量,日期和時(shí)間可自行設(shè)定 --電池壽命長(zhǎng)(每天150次測(cè)量約可工作1個(gè)月) --在4℃-60℃范圍內(nèi)可進(jìn)行溫度補(bǔ)償校準(zhǔn) --用戶界面為英文或簡(jiǎn)體中文 |
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