C-Nano+是一款適用于各種材料和應(yīng)用的EBSD探測(cè)器。利用專(zhuān)門(mén)定制的CMOS傳感器,C-Nano+采集速度可達(dá)600 pps,同時(shí)花樣分辨率達(dá)到312 x 256像素:這比同類(lèi)型的基于CCD的探測(cè)器采集速度快5-6倍,得到至少4倍像素的花樣。C-Nano+值得讓您信任的性能,使其即使在更具挑戰(zhàn)性的材料上,也能提供出色數(shù)據(jù)質(zhì)量。
C-Nano+的光纖光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì),確保了的靈敏度和亞像素失真水平,使其成為需要優(yōu)良、高清花樣的精細(xì)的應(yīng)變分析的理想探測(cè)器。C-Nano+的靈敏度確保在使用非常低的束流(在3 nA以下)時(shí),也能達(dá)到的分析速度。全分辨率模式能提供達(dá)900 pps/nA的靈敏度,從而能夠成功地對(duì)電子束敏感材料和納米晶材料進(jìn)行詳細(xì)地分析。
C-Nano+還得益于牛津儀器CMOS探測(cè)器系列的新設(shè)計(jì)功能,包括可避免潛在、代價(jià)昂貴的碰撞發(fā)生的接近傳感器。C-Nano+是一個(gè)您可以一直信賴(lài)使用的探測(cè)器。