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  • 博微BOWEI-晶體管光耦參數(shù)測試儀(雙功能版)
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BW-3010B 博微BOWEI-晶體管光耦參數(shù)測試儀(雙功能版)

參考價訂貨量

10001

≥1件

具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 型號BW-3010B
  • 品牌
  • 所在地西安市
  • 更新時間2024-08-29
  • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
  • 入駐年限1
  • 實名認證已認證
  • 產(chǎn)品數(shù)量12
  • 人氣值499
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同類產(chǎn)品

陜西博微電通科技有限責任公司位于古都西安灃東新城能源金貿(mào)區(qū),我公司是一家致力于高精度半導體測試設備、電力電子檢測設備、半導體實驗室系統(tǒng)及電力儲能解決方案的集研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高科技企業(yè)。

公司主營產(chǎn)品有:半導體分立器件測試系統(tǒng)、光藕測試儀器、IC測試儀、半導體熱特性測試系統(tǒng)及電池安全管理系統(tǒng)等,

針對Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等功率器件、光耦、IC半導體測試產(chǎn)品,廣泛應用于半導體企業(yè)測試計量、封裝測試、IDM測試、晶圓測試、DBC測試以及科研教學、智能電力、軌道交通、新能源汽車、白色家電等元器件應用端產(chǎn)業(yè)鏈的來料檢驗、器件選型及工業(yè)院所、實驗室的數(shù)據(jù)驗證分析和研發(fā)指導等。

半導體測試設備可針對Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等功率器件、光耦、IC可進行高精度靜態(tài)參數(shù)測試(包括導通、關斷、擊穿、漏電、增益等直流參數(shù))測試精度可達16位ADC;動態(tài)雙脈沖(包括Turn_ON_L/Turn_OFF_L/FRD/Qg)及Rg/UIS/SC/C/RBSOA測試等;環(huán)境老化測試(包括HTRB/HTGB/H3TRB/Surge/間歇壽命IOL/功率循環(huán)PCT3000 )及熱特性測試(包括PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等)半導體器件測試設備/雪崩耐量測試UIS、二極管浪涌測試IFSM、熱阻測試、晶閘管直流參數(shù)測試SCR、安全工作區(qū)正偏/反偏/短路安全工作區(qū)測試SOA,各類型探針臺、高精度高低溫箱及分立器件分選機系統(tǒng)等

該系列產(chǎn)品廣泛應用于半導體生產(chǎn)及應用企業(yè)(設計、制造、封裝、IDM廠商、晶圓、DBC襯板)和下游產(chǎn)業(yè)(院所高校、電子廠、軌道機車、新能源汽車、白色家電等元器件的應用端產(chǎn)業(yè)鏈)的來料檢驗、器件分選、參數(shù)分析;廣泛應用于半導體實驗室、研究所、高校等研發(fā)部參數(shù)對比、器件選型、驗證分析、研發(fā)數(shù)據(jù)指導等。
      公司具備完整的電子產(chǎn)品生產(chǎn)線和質(zhì)量控制體系,擁有一批高素質(zhì)的技術研發(fā)人員和優(yōu)秀的管理團隊,專注于半導體測試領域的技術創(chuàng)新和研發(fā)持續(xù)升級。公司注重產(chǎn)品
質(zhì)量,更注重售后服務和客戶滿意度,我們秉承“博厚共贏、服務入微”理念竭誠為每一位客戶提供性價比高、高品質(zhì)的產(chǎn)品與服務,解決客戶半導體測試痛點,助力行業(yè)發(fā)展。








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BW-3010B型光藕參數(shù)測試儀是專為各種4腳三極管型的光電耦合器和光電傳感器的功能和參數(shù)測試及參數(shù)”合格/不合格”(OK/NO)判斷測試,BW-3010B為各種三極管型4腳光藕提供了輸入正向壓降(VF)和輸出反向耐(ICEO)、耐壓BVCEO、傳輸比(CTR)等 。中文軟件界面友好,簡化了系統(tǒng)的操作和編程,提供了快速的一次測試條件和測試參數(shù)的設定,測試條件及數(shù)據(jù)同步存入EEPROM中,測試便捷。
博微BOWEI-晶體管光耦參數(shù)測試儀(雙功能版) 產(chǎn)品詳情

BW-3010B

晶體管光耦參數(shù)測試儀(雙功能版)


品牌: 博微電通

名稱:晶體管光耦參數(shù)測試儀(光耦&光電傳感器雙功能版)

型號: BW-3010B

用途: BW-3010B型光藕參數(shù)測試儀是專為各種4腳三極管型的光電耦合器的功能和參數(shù)測試及參數(shù)”合格/不合格”(OK/NO)判斷測試。                                                                      

BW-3010B型光藕參數(shù)測試儀是專為各種4腳三極管型的光電耦合器和光電傳感器的功能和參數(shù)測試及參數(shù)”合格/不合格”(OK/NO)判斷測試,BW-3010B為各種三極管型4腳光藕提供了輸入正向壓降(VF)和輸出反向耐(ICEO)、耐壓BVCEO、傳輸比(CTR)等 。中文軟件界面友好,簡化了系統(tǒng)的操作和編程,提供了快速的一次測試條件和測試參數(shù)的設定,測試條件及數(shù)據(jù)同步存入EEPROM中,測試條件可以任意設置,測試正向壓降和輸出電流可達1A,操作簡便,實用性強。廣泛應用與半導體電子行業(yè)、新能源行業(yè)、封裝測試、家電行業(yè)、科研教育等領域來料檢驗、產(chǎn)品選型等重要檢測設備之一。

產(chǎn)品電氣參數(shù):

產(chǎn)品信息

產(chǎn)品型號:BW-3022A

產(chǎn)品名稱:晶體管光耦參數(shù)測試儀;

物理規(guī)格

主機尺寸:深 305*寬 280*高 120(mm)

主機重量:<4.5Kg

主機顏色:白色系

電氣環(huán)境

主機功耗:<75W

環(huán)境要求:-20℃~60℃(儲存)、5℃~50℃(工作);

相對濕度:≯85%;

大氣壓力:86Kpa~106Kpa;

防護條件:無較大灰塵,腐蝕或爆炸性氣體,導電粉塵等;

電網(wǎng)要求:AC220V、±10%、50Hz±1Hz;

工作時間:連續(xù);


服務領域:

博微BOWEI-晶體管光耦參數(shù)測試儀(雙功能版)

     應用場景:

    ?選型配對(在器件焊接至電路板之前進行全部測試,將測試數(shù)據(jù)比較一致的器件進行分類配對)

    ?檢驗篩選(研究所及電子廠的質(zhì)量部(IQC)對入廠器件進行抽檢/全檢,把控器件的良品率)

    產(chǎn)品特點:

    ?大屏幕液晶,中文操作界面,顯示直觀簡潔,操作方面簡單

    ?大容量EEPROM存儲器,儲存量可多達1000種設置型號數(shù).

    ?全部可編程的DUT恒流源和電壓源.

    ?內(nèi)置繼電器矩陣自動連接所需的測試電路,電壓/電流源和測試回路.

    ?高壓測試電流分辨率1uA,測試電壓可達1500V

    ?重復”回路”式測試解決了元件發(fā)熱和間歇的問題;

    ?軟件自校準功能;

    ?自動測試測DUT短路、開路或誤接現(xiàn)象,如果發(fā)現(xiàn),就立即停止測試;

    ?DUT的功能檢測通過LCD顯示出被測器件/DUT的類型,顯示測試結(jié)果是否合格,并有聲光提示;

    ?兩種工作模式:手動、自動測試模式。

         BW-3010B主機和DUT的管腳對應關系

型號類型

P1

 T1

P2

 T2

P3

T3

P4

T4

光藕PC817

A

A測試端

K

K測試端

E

E測試端

C

C測試端

                                                BW-3010B測試技術指標:

1、光電傳感器指標:

輸入正向壓降(VF)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-2V

2mV

<1%+2RD

0-1000MA



反向電流(Ir)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-200UA

0.2UA

<2%+2RD

VR:0-20V



集電極電流(Ic)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-40mA

0.2MA

<1%+2RD

VCE:0-20V IF:0-40MA

輸出導通壓降(VCE(sat))

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-2.000V

2mV

1% +5RD

IC0-40mA

IF:0-40mA

輸出漏電流(Iceo)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-2.000mA

2UA

<2%+2RD

VR:0-20V

2、光電耦合器:

耐壓(VCEO)測試指標

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-1400V

1V

<2%+2RD

0-2mA

輸入正向壓降(VF)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-2V

2mV

<1%+2RD

0-1000MA

反向漏電流(ICEO)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-2000uA

1UA

<5% +5RD

BVCE=25V

反向漏電流(IR)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-2000uA

1UA

<5% +5RD

VR=0-20V

電流傳輸比(CTR)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-9999

1%

1% +5RD

BVCE0-20V

IF:0-100MA

輸出導通壓降(VCE(sat))

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-2.000V

2mV

1% +5RD

IC0-1.000A

IF:0-1.000A

可分檔位總數(shù):10

       BW-3010B測試定義與規(guī)范:

AKEC:表示引腳自左向右排列分別為 光耦的,A K E C極.

VF:IF: 表示測試光耦輸入正向VF壓降時的測試電流.

Vce:Bv:表示測試光耦輸出端耐壓BVCE時輸入的測試電壓.

Vce:Ir: 表示測試光耦輸出端耐壓BVCE時輸入的測試電流.

CTR:IF:表示測試光耦傳輸比時輸入端的測試電流。

CTR:Vce:表示測試光耦傳輸比時輸出端的測試電壓。

Vsat:IF:表示測試光耦輸出導通壓降時輸入端的測試電流。

Vsat:Ic:表示測試光耦輸出導通壓降時輸出端的測試電流。







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