X射線鍍層測厚儀Thick880
                ---專業(yè)的金屬電鍍層測試專家
 
產品優(yōu)勢和特點
*超高分辨率、超清攝像頭、超便捷操作、超快檢測速度、超人性化界面
*易于使用，一鍵操作，即可獲得鍍層厚度及組成成份的分析結果
*有助于識別鍍層成分的創(chuàng)新型功能
*機身結構小巧結實，外形十分漂亮，適合放置于陳列展室
*按下按鈕的數(shù)秒之內，即可得到有關樣件鍍層厚度的精確結果
*使用PC機和軟件，可以迅速方便地制作樣件的檢驗結果證書
*用戶通過攝像頭及艙內照明系統(tǒng)，可看到樣件測試位置，提升了用戶測試信心
*Thick系列分析儀測試數(shù)據(jù)可以下載和上傳網(wǎng)絡，檢測結果易于查看和分享
*有X射線防護鎖，只有在封閉狀態(tài)下才發(fā)射X射線，安全、可靠的保證客戶使用
 
測試樣品示例
  
儀器應用演示                       
1、打開儀器上蓋                                               
2、放入樣品
3、在軟件中點擊“開始”按鈕,測量完成,顯示分析結果
 
 
XRF鍍層分析儀硬件性能及優(yōu)勢
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）
同時可以分析幾十種以上元素，五層鍍層
分析檢出限可達2ppm,鍍層分析可以分析0.005um厚度樣品
分析含量一般為ppm到99.9%  。
鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序
多次測量重復性可達0.1%
長期工作穩(wěn)定性可達0.1%
度適應范圍為15℃至30℃。
 
儀器配置
高壓電源  0 ~ 50KV
光管管流  0μA ~ 1000μA
數(shù)字多道分析器
攝像頭
濾光片可選擇多種定制切換
美國進口半導體探測器
測試時間可調 10sec ~ 100sec
儀器環(huán)境要求
環(huán)境溫度   15°C ~ 30°C
相對濕度   35% ~ 70%
電源要求   AC 220V±5V, 50/60HZ