特點(diǎn):
循環(huán)測(cè)試
自動(dòng)搜尋 IC 編號(hào)功能
開(kāi)機(jī)自我偵測(cè)診斷功能
過(guò)載保護(hù)功能
可測(cè)量的IC 種類超過(guò) 1800 種
54/74 系列 TTL 及高速 CMOS
4000 及 4500 系列 CMOS
測(cè)試針腳: 28 Pin
產(chǎn)品敘述:
臺(tái)式數(shù)字IC測(cè)試儀
GUT-6000A是一款臺(tái)式IC測(cè)試儀。鑒于使測(cè)試任務(wù)自動(dòng)化,GUT-6000A包含自動(dòng)搜索功能和回圈測(cè)試功能等高級(jí)功能。并提供智能化連續(xù)偵測(cè)壞損的IC的功能。自我診斷功能和超載保護(hù)功能使GUT-6000A更接近零維護(hù),減少了使用者不必要的爭(zhēng)議。測(cè)試器件大1800多種常見(jiàn)的TTL和COMS器件,真正在數(shù)字IC測(cè)試領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)一個(gè)機(jī)型測(cè)量所有器件的解決方案。
產(chǎn)品規(guī)格:
測(cè)試范圍 | |
| 54/74 系列 TTL |
4000 及 4500 系列 CMOS | |
測(cè)量種類 | |
| 約 1800 種 |
測(cè)試電壓 | |
| 5V DC |
測(cè)試時(shí)間 | |
| 高測(cè)試速度,平均 0.8 秒可完成一個(gè) IC |
電源 | |
| 交流 100V~240V +10%, 50/60Hz |
尺寸&重量 | |
| 335(寬) x 105(高) x 300(長(zhǎng)) mm |