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Agilent HP 4156A是下一代精密半導體參數(shù)分析儀。您可以獲得佳的數(shù)字掃描參數(shù)分析儀，

可靠性測試儀，功能強大的故障分析工具和自動化的輸入檢測站，所有這些都集成在一臺儀器中。

這個新系列的設(shè)計旨在為評估亞微米幾何設(shè)備提供精度和功能。使用一臺靈活的儀器，

您可以從材料評估和器件特性一直到S終的封裝零件檢測和現(xiàn)場故障分析，從而提高半導體質(zhì)量。

Agilent HP 4156A提供四個內(nèi)置源/監(jiān)視器單元（SMU），兩個電壓源單元（VSU）和兩個電壓監(jiān)視器單元（VMU）。

Agilent HP 4156A將電流分辨率擴展至1 fA，精度達到20 fA。Agilent HP 4156A在每個SMU上使用全開爾文遙感。

您可以隨時添加Agilent HP 41501A SMU和脈沖發(fā)生器擴展器，它配有0 V / 1.6 A接地單元。

擴展器可接受兩個100 mA / 100 V SMU或一個1 A / 200 V SMU，以及兩個特殊同步的40 V / 200 mA /1μs脈沖發(fā)生器。

設(shè)置和測量

4156A精密半導體參數(shù)分析儀

主要特點

高分辨率/準確度和寬范圍。I：1 fA至1 A（20 fA偏移精度），V：1μV至200 V.

采用直流或脈沖模式的全自動IV掃描測量，S多可擴展至6個SMU

同步應(yīng)力/測量功能，兩個高壓脈沖發(fā)生器單元（±40 V）

時域測量：60μS可變間隔，S多10,001個點

易于使用：旋鈕掃描類似于曲線追蹤器，自動分析功能

自動化：內(nèi)置HP Instrument BASIC，觸發(fā)I / O功能

Agilent HP 4156A可以使用許多測量單元（包括HP 41501A中的單元）執(zhí)行階梯和脈沖掃描測量以及采樣（時域）測量，而無需更改連接。

此外，您還可以輕松執(zhí)行壓力測量循環(huán)測試，以進行熱載流子注入和閃存EEPROM測試等可靠性評估。

通過設(shè)置頁面并從前面板鍵，鍵盤或HP-IB（SCPI命令）填充空白來進行設(shè)置和測量。您還可以使用旋鈕掃描功能即時測量和查找設(shè)置條件，

這與曲線跟蹤器操作類似。

顯示和分析

測量和分析結(jié)果顯示在彩色CRT上，您可以疊加來自四個圖形存儲器的存儲圖形進行比較。

許多強大的圖形分析工具可以輕松分析和提取許多參數(shù)，如hFE和Vth。找到參數(shù)提取條件后，可以使用自動分析功能自動獲取參數(shù)。

輸出和存儲

設(shè)置，測量和分析數(shù)據(jù)可通過HP-IB或串行接口輸出到彩色繪圖儀和打印機。

您還可以將數(shù)據(jù)保存為MS-DOS或LIF格式的3英寸磁盤。

圖形（HP-GL或PCL）輸出文件允許您將圖形傳輸?shù)阶烂娉霭孳浖?/span>