ElektroPhysik GalvanoTest 2000測厚儀技術(shù)規(guī)格
8 退鍍速度從0.3到40µm /分鐘
測量表面介于0.25和8毫米²
測量范圍50 nm和75µm / 0.002 - 3毫升
電解質(zhì)燒杯(附件)來測量導(dǎo)線
可變的關(guān)閉速度測量合金區(qū)
小部件和電線測量配有廣泛的測量配件
技術(shù)規(guī)格：
庫侖鍍層測厚儀GALVANOTEST 可以測量 | 2000 |
可以測量70種以上鍍層/基體組合 | ● |
可以測量平面、曲面上的鍍層 | ● |
可以測量小零件、導(dǎo)線、線狀零件 | ● |
預(yù)置10種金屬的測量參數(shù)：Cr鉻、Ni鎳、Cu銅、黃銅、Zn鋅、Ag銀、Sn 錫、Pb鉛、Cd鎘、Au金（需提供樣品確定） |
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預(yù)置9種金屬的測量參數(shù)：Cr鉻、Ni鎳、Cu銅、黃銅、Zn鋅、Ag銀、Sn 錫、Pb鉛、Cd鎘。 | ● |
用戶可另設(shè)置8種金屬的測量參數(shù) |
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用戶可另設(shè)置1種金屬的測量參數(shù) | ● |
庫侖鍍層測厚儀測量機構(gòu)： |
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帶循環(huán)泵 |
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帶氣泵 | ● |
庫侖鍍層測厚儀測量面積： |
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密封墊 8 mm2 | ● |
密封墊 4 mm2 | ● |
密封片 1 mm2 | ● |
密封片 0.25 mm2（涂鍍層面積幾乎小得看不見） |
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電解杯 0.25-16 mm2 （可選件） | ● |
庫侖鍍層測厚儀測量參數(shù)*化調(diào)整： |
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除鍍速度0.3-40 μm/分鐘可調(diào) | ● |
根據(jù)金屬和測量表面可直接調(diào)整系數(shù) | ● |
可用厚度標準樣板校準 | ● |
可調(diào)整終點電壓，以抗干擾，適應(yīng)鍍層/基體之間的合金 | ● |
GALVANOTEST的數(shù)據(jù)存儲 |
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可存儲不同金屬測量參數(shù)的數(shù)目 | 10 |
可存儲的讀數(shù)和統(tǒng)計值 | 2000 |
儀器斷電后可保持所有校準值、讀數(shù)、統(tǒng)計值。 | ● |
庫侖鍍層測厚儀統(tǒng)計計算： |
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顯示6種統(tǒng)計值：均值、標準偏差、變異系數(shù)、zui大、zui小值、讀數(shù)個數(shù) | ● |
立即或稍后顯示統(tǒng)計值 | ● |
立即或稍后打印讀數(shù)和統(tǒng)計值 |
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顯示、打印年、月、日、時、分 | ● |
用于外設(shè)的計算機接口： |
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MINIPRINT 微型打印機接口 | ● |
RS-232，PC計算機接口 | ● |
連接x-t計錄儀模擬電壓輸出接口 | ● |
電解液飽和報警指示 |
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測量的不確定性： |
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5%，在8mm2面積下，經(jīng)校準 | ● |
庫侖鍍層測厚儀電源： |
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110/220V，50/60HZ，10W | ● |
測量范圍： |
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zui大測量范圍：0.05-75μm | ● |
產(chǎn)品特點
• 可測實際應(yīng)用的所有鍍層
• 利用庫侖電量分析原理，測量鍍層、多層鍍層
• 符合標準：DIN EN ISO 2177
德國EPK(Elektrophysik)公司庫侖鍍層測厚儀GALVANOTEST 2000，運用的庫侖電量分析原理。其過程類似于電鍍，但電化學(xué)反應(yīng)的方向相反，是電解除鍍?？梢杂糜跍y量幾乎所有基體上的電鍍層厚度。基體包括鋼鐵、有色金屬以及絕緣材料。例如鐵上鑷、鐵上鋅、銅上銀、環(huán)氧樹脂上的銅等。
測量時具有一定的破壞性，需去除幾乎看不到的一小塊面積的鍍層金屬，而基體不受影響。庫侖法確保測量結(jié)果準確、可靠，儀器使用簡便。測量操作由儀器的指令自主完成，操作者不需具備太多的專業(yè)知識也可以簡單操作。
GALVANOTEST 2000保證所有測量和統(tǒng)計數(shù)據(jù)安全可靠，可打印數(shù)據(jù)和電壓特征曲線。
篤摯儀器（上海）有限公司致力于長度計量儀器，光學(xué)儀器、形狀類儀器，材料檢測儀器，涂裝與表面處理檢測儀器的銷售與維護服務(wù)。主要代理德國EPK涂層測厚儀產(chǎn)品，并且我司具有許可進出口經(jīng)營權(quán)。本公司有專業(yè)銷售和技術(shù)人員，為客戶提供方信守合同便，快捷的售前（演示設(shè)備、介紹技術(shù)）售中（為客戶選型、滿足客戶要求），售后服務(wù)（設(shè)備維護、保養(yǎng)問題）在客戶需要的時候，我們的專業(yè)人員能夠即來到客戶現(xiàn)場，提供急需的服務(wù)。
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