Introspect T-CON及LVDS測試解決方案的產(chǎn)品資料:
高速多通道信號發(fā)生器在LVDS to T-CON(時序控制器)及中大尺寸顯示屏驅(qū)動芯片的測試解決方案_Introspect Tx/Rx LVDS測試解決方案（支持共模電壓調(diào)整，+-4.5% Modulation rate）
高速多通道信號發(fā)生器在LVDS to T-CON(時序控制器)及中大尺寸顯示屏驅(qū)動芯片的測試解決方案
Introspect Tx/Rx LVDS測試解決方案（支持共模電壓調(diào)整，+-4.5% Modulation rate）
附件及如下是關(guān)于Introspect T-CON及LVDS測試解決方案的產(chǎn)品資料及主要功能介紹，目前Introspect的產(chǎn)品已經(jīng)廣泛應(yīng)用在很多DDIC及芯片的廠商用于T-CON多通道等產(chǎn)品測試驗證上。
Introspect SV1C/SV3C系列產(chǎn)品五大亮點:
1.每個通道具備獨立注入抖動能力
2.每個通道具備調(diào)整Skew能力
3.可調(diào)整共模電壓幅值(VCOM)
4.可編程客制化碼型
5.It can completely replace the Tec DTG 5334 and has a price advantage of small size and excellent preparation
T-CON及LVDS測試解決方案:
Introspect LVDS PG的主要優(yōu)勢:
1. 可以透過PG直接發(fā)圖片
2. 支持及滿足共模電壓測試要求
3. ±4.5% SSC功能的支持
其他優(yōu)勢類似于CDPHY PG和BERT的功能
4.It can completely replace the Tec DTG 5334 and has a price advantage of small size and excellent preparation
