Langer射頻耦合套組(IC測試系統(tǒng))
品牌:Langer EMV-Technik
型號:P501/P503 set
Langer IEC 62132-4射頻注入功率到3GHz
Langer射頻耦合套組(IC測試系統(tǒng))P501/P503 set介紹:
使用 Langer EMV-Technology 的探針測量的優(yōu)勢在使用 P500系列(P501,P502,P503)的探針進行抗擾測量期間,每個單獨的 IC 引腳(例如 QFP,QFN 封裝)甚至 BGA 的球可以單獨接觸并暴露于 RF。測量對應于根據(jù) IEC 62132-4的 DPI 方法,其中通常連接在引腳處用于耦合 RF 的網(wǎng)絡包括在相應的探針中。這使得測量的頻率范圍可以擴展到3GHz。此外,探針包含一個集成的電流和電壓測量,這使得 IC 的優(yōu)化以及應用要求的定義成為可能。
Langer射頻耦合套組(IC測試系統(tǒng))P501/P503 set配置:
1x P501, DPI耦合網(wǎng)絡(~3GHz,50V)
1x P503, DPI 耦合網(wǎng)絡(~1GHz,50V)
1x SMA-SMA 1 m ds
2x SMA-SMB 1 m ds
1x NT FRI EU
1x P500 case
1x P500 qg
1x P500 m
簡短的介紹:
P501型耦合網(wǎng)絡按照IEC 62132-4標準在集成電路引腳中進行射頻供電。當施加干擾時能夠在集成的測量輸出端口分別測量電流和電壓。P501型耦合網(wǎng)絡工作時與一個功率放大器相連。
P503型耦合網(wǎng)絡按照IEC 62132-4標準在集成電路引腳中進行射頻供電。當施加干擾時能夠在集成的測量輸出端口分別測量電流和電壓。P503型耦合網(wǎng)絡工作時與一個功率放大器相連。