 | TP200系統(tǒng)組件包括：? TP200或TP200B測頭本體（TP200B為另一款，允許更大振動公差）? TP200測針模塊 — 選擇固定越程測力：SF（標(biāo)準(zhǔn)測力）或LF（低測力） ? PI 200-3測頭接口 ? SCR200測針交換架 還有一種EO模塊（長過行程），過行程測力與SF相同，但工作范圍更大，并在測頭Z軸方向提供保護(hù)。 |
| TP200 / TP200B測頭本體 | | | |
| TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和準(zhǔn)確的三維輪廓測量，即使配用長測針時也不例外。 傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復(fù)性，并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了在數(shù)百萬次觸發(fā)中的可靠操作。 TP200B采用的技術(shù)與TP200相同，但允許更高的振動公差。這有助于克服因坐標(biāo)測量機(jī)傳導(dǎo)振動或在移動速度很高的情況下使用長測針?biāo)l(fā)的誤觸發(fā)問題。 請注意：我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄式/星形測針。 |  | ||
| TP200測針模塊 | | | |
| 測針模塊通過高重復(fù)性機(jī)械定位的磁性接頭安裝在TP200/TP200B測頭本體上，具有快速測針交換功能和測頭過行程保護(hù)功能。 有三種測針模塊可供選擇，具有兩種不同的過行程測力。 | |||
| 模塊 | SF（標(biāo)準(zhǔn)測力） | LF（低測力） | EO（長過行程） |
| 應(yīng)用 | 一般使用 | 小直徑測球或必須使用*小測力的場合 | 額外過行程使坐標(biāo)測量機(jī)在較高的碰觸速度下安全停止并回退 |
| 注釋 | 測針*長可達(dá)100 mm，測球直徑 > 1 mm | 測球直徑小于1 mm | 與SF的過行程測力相同，測頭Z軸的額外過行程為8 mm |
| SCR200交換架 | | | |
| SCR200可以高速自動交換多達(dá)六個TP200測針模塊。SCR200由獨(dú)自的測頭接口 --PI 200-3供電，并可確保安全的測針交換。SCR200套件可包含低測力和標(biāo)準(zhǔn)測力組件，每一種套件都包含一個SCR200加上三個測力相同的測針模塊。 |  | | |
| 特點(diǎn)： ? 應(yīng)變片技術(shù)具有的重復(fù)性和準(zhǔn)確的三維輪廓測量 |  |
