為了更好地滿足客戶高性能、高穩(wěn)定性的測試需求，加速科技重磅推出了新一代測試系統(tǒng)ST5000系列。

該系列包含ST5000與ST5000HD兩款產品，支持1024數(shù)字通道配置、1Gbps速率傳輸，Pattern Rate 支持250Mhz。硬件結構采用Direct Docking連接方式，兼容Jtype針卡，較大程度降低客戶轉平臺治具成本。配套設計的公用loadboard，可以極大縮短客戶產品硬件開發(fā)周期。ST5000還具有靈活的可擴展性，為后期藍牙測試模塊、RF測試模塊及各類高性價比解決方案奠定了良好基礎。

ST-IDE軟件提供用戶友好的集成開發(fā)環(huán)境，豐富的開發(fā)和調試工具，方便客戶進行測試程序開發(fā)。針對工廠批量測試，提供專用的工廠界面，并擁有豐富的數(shù)據記錄和分析工具。

產品優(yōu)勢：ST5000系列混合信號測試系統(tǒng)

• 高效率
  • 內部集成40Gbps通信總線，雙工模式高效數(shù)據傳輸
  • FPGA硬件實現(xiàn)調度算法，無阻塞全并行測試
  • 廣播式向量加載及動態(tài)修改，實現(xiàn)向量高速下載
  • 相比傳統(tǒng)機臺效率提升30%以上
• 高性能
  • 數(shù)字IO速率高達1Gbps（Hard Docking模式）
  • 配合高速LoadBoard解決方案，可以支持17.5Gbps高速接口測試，支持10GE/MIPI/HDMI/JED204B/ LVDS/PCIe/自定義協(xié)議
• 易維護
  • 通信架構，模塊化設計
  • 支持級聯(lián)擴展，提升通道密度
  • 支持功能板卡擴展，提升資源種類
• 可定制
  • 自主知識產權，可依據客戶需求定制測試系統(tǒng)
  • 提供軟硬件算法定制化
  • 提供IC和模組系統(tǒng)級測試方案

應用場景：ST5000系列混合信號測試系統(tǒng)

ST5000系列數(shù)字混合信號測試系統(tǒng)可以廣泛應用于SOC/MCU、FLASH、EEPROM、Logic、CPLD/FPGA、CIS、指紋芯片、PMIC、PA、射頻開關、濾波器等半導體晶圓、 器件測試和模塊系統(tǒng)級測試。

產品關鍵特性：ST5000系列混合信號測試系統(tǒng)

• 采用數(shù)字混合架構，單板集成數(shù)字、模擬混合信號測試功能，支持250/500MHz時鐘頻率，500Mbps/1Gbps數(shù)據速率
• DFB32H業(yè)務板支持32路數(shù)字通道，每通道含獨立PPMU模塊，4機臺級聯(lián)，支持1024路數(shù)字通道1024sites并測
• 每通道192M Vector存儲深度，SCAN模式單SCAN Chain高達3GB，高速通信架構，Pattern加載及測試過程中 的動態(tài)修改以廣播方式下發(fā)，提高并行測試效率
• 突破傳統(tǒng)Format限制，由用戶自定義波形，128組timing set、1024組edge set、6edge可調，輸入輸出自由轉換，大大減少程序開發(fā)限制
• DFB32H業(yè)務支持4路DPS（+8.4V/-3.25V電平設定，驅動電流500mA），電源支持Gang Mode
• ST5000 支持64路DPS， ST5000HD支持128路DPS
• DFB32H業(yè)務板支持4路100MHz TMU，1路2MSPS 16bit AWG，1路1MSPS 16bit Digitizer
• 系統(tǒng)采用Direct Docking連接方式，增加晶圓測試穩(wěn)定性
• 通信系統(tǒng)標準，超負荷硬件自測系統(tǒng)，保證系統(tǒng)超長時間穩(wěn)定運行
• 智能軟硬件維護系統(tǒng)，提供故障代碼，精確定位軟硬件故障位置
• ST-IDE軟件提供基于Eclipse的IDE開發(fā)環(huán)境，支持基于C/C++的開發(fā)，提供各種開發(fā)工具和調試工具
• 針對工廠量產提供專門GUI，數(shù)據實現(xiàn)顯示監(jiān)控，提供豐富的數(shù)據記錄分析工具

系統(tǒng)規(guī)格：ST5000系列混合信號測試系統(tǒng)

系統(tǒng)配置：ST5000系列混合信號測試系統(tǒng)

根據測試資源要求，通過模塊擴展，可以滿足資源場景配置

ST5000混合信號測試系統(tǒng)	512數(shù)字通道，512PPMU通道，64DPS
ST5000HD混合信號測試系統(tǒng)	1024數(shù)字通道，1024PPMU通道，128DPS