普桑達(dá) 高溫試驗機(jī) 高溫老化試驗室可對電子、電工產(chǎn)品及機(jī)械零件、部件等按國家標(biāo)準(zhǔn)要求進(jìn)行恒定濕熱等環(huán)境模擬試驗，考核產(chǎn)品在恒定濕熱條件下貯存和工作的適應(yīng)性。
控制系統(tǒng)：
7英寸智能數(shù)顯薄膜按鍵控制儀表，控溫精準(zhǔn)、操作簡單方便、安全可靠。
儀表解析精度0.1℃。
運(yùn)行方式：定值運(yùn)行（溫度可任意設(shè)置，可調(diào)、可控）。
溫度傳感器：優(yōu)質(zhì)PT100傳感器，精度高、波動度小、長壽命。
人性化設(shè)計的操作方法，易學(xué)易用，并且不同功能檔次的儀表操作相互兼顧。
輸入采用數(shù)字校正系統(tǒng)，測量精確穩(wěn)定，具備溫度補(bǔ)償功能可方便修正溫度實際偏差。
具備位式調(diào)節(jié)和AI人工智能PID調(diào)節(jié)功能，多種報警模式。
設(shè)備配有定時器，具有定時關(guān)機(jī)和計時功能，時間到后可自動停機(jī)，省去人工計時操作的麻煩。
控制方式：連續(xù)PID 控制+SSR 系統(tǒng)同步協(xié)調(diào)控制，控制精度高，系統(tǒng)更加穩(wěn)定，控制組件壽命更長。
控制系統(tǒng)采用固態(tài)繼電器過零觸發(fā)，以降低噪音，減少污染，方便維修，提高控制精度。
在控制系統(tǒng)中設(shè)有安全保護(hù)措施，包括：缺相保護(hù)、相序錯誤保護(hù)、相電壓不平衡保護(hù)、風(fēng)機(jī)過載保護(hù)、超溫。當(dāng)其中任一項保護(hù)功能動作時，設(shè)備自動停止運(yùn)行，同時警報燈響，待故障排除后才能啟動設(shè)備。
加熱裝置：不銹鋼翅片加熱管，安裝方便，易于維修和更換。
對流系統(tǒng)：
多葉片渦輪風(fēng)扇、耐高溫專用風(fēng)機(jī)。加快工作室內(nèi)的溫度平衡時間，改善室內(nèi)的溫度均勻性。
試驗室設(shè)有獨(dú)立的循環(huán)風(fēng)道，在風(fēng)道內(nèi)增加龍骨結(jié)構(gòu)，形成穩(wěn)固的風(fēng)道骨架，循環(huán)風(fēng)機(jī)合理的分布在風(fēng)道內(nèi)，安裝在牢固的馬達(dá)架上。有效保證試驗室內(nèi)的空氣循環(huán)和溫度均勻。
在風(fēng)道內(nèi)設(shè)有傳感報警裝置，當(dāng)風(fēng)道內(nèi)壁溫度過高、循環(huán)風(fēng)機(jī)過熱時會發(fā)出報警信號并自動切斷電源。
安全保護(hù)裝置：
電源超載、短路保護(hù)。
箱體接地保護(hù)：箱體內(nèi)壁連接成一個整體，且與外界大地接地連通。
超溫保護(hù)：為了防止樣品因箱內(nèi)溫度高而損壞，當(dāng)實際溫度超過設(shè)定值后自動切斷電源，并產(chǎn)生報警提示，從而實現(xiàn)保護(hù)樣品的目的。
電源缺相報警：防止電源因缺相原因造成各相電流不平衡，影響加熱效果。
護(hù)套式接線端子。
報警訊響提示：
普桑達(dá) 高溫試驗機(jī) 高溫老化試驗室性能參數(shù)：
型號：BY-260LF
工作室尺寸：按用戶要求定做，體積從2m3~200m3不等
實驗室結(jié)構(gòu): 可拆裝現(xiàn)場拼裝結(jié)構(gòu)方式。
在無試驗負(fù)荷、無層架情況下穩(wěn)定2小時后測定的性能。另外，關(guān)于溫度上升時間是指風(fēng)冷式在室溫＋25℃,空載時的性能：
溫度范圍:RT+10℃～70℃.
溫度波動度:≤±0.5℃.
溫度均勻度: ≤±3.0℃.
溫度偏差：≤±2.5℃
升溫速率：RT～70℃,平均1～3℃/min(非線性空載).
※ 溫度變化速率為空氣溫度變化速率,而非產(chǎn)品溫度變化速率.
庫房板: 房體采用 75MM 巖棉板裝配而成，外面 0.8 厚彩鋼，內(nèi)部 0.8 厚彩鋼板。模塊化組合，板材之間連接固定為隱藏式，緊固件不外露，安裝拆卸方便。五面保溫，板面復(fù) PVC 保護(hù)膜，避免傷痕、污跡破損，外形美觀大方。
控制柜：放在箱體的右側(cè)，操作順勢方便、美觀大方，表面靜電噴塑處理；控制柜內(nèi)的
所有電線均有序號和編號，線路清楚，一目了然。
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：
GB2423.2—2001 試驗B：高溫試驗方法；
GB2423.22—2002 溫度變化試驗方法；
GB2423.2—2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗》溫度實驗設(shè)備檢定方法
GB/T5170.5—2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境實驗設(shè)備檢驗方法。
GB/50054-95《低壓配電設(shè)計規(guī)范》
GB/5002S2-95《供配電設(shè)計規(guī)范》
