維氏硬度計(jì)技術(shù)規(guī)格
型號(hào): VH-500
載荷: (A型)kgf : 1, 2, 3，5, 10, 20, 30, 50 (B型)kgf:0.3,0.5,1,3,5,10,20,30 (D型)kgf:0.2,0.3,0.5,1,2,3,5,10
加載機(jī)構(gòu):自動(dòng)加載和自動(dòng)卸載50-100μm/秒
保壓時(shí)間:5-99 秒
塔臺(tái)機(jī)構(gòu):自動(dòng)轉(zhuǎn)塔臺(tái)
金剛石壓頭:維氏壓頭
操作面板:LCD彩色觸屏面板
物鏡A型:10x;20x B型10x;40 D型:10x;40x A型可選加2個(gè)物鏡（5x、40x）B型可選加1個(gè)物鏡（5x、20x）D型可選加1個(gè)物鏡（5x、20x）
測(cè)量目鏡:電子型10x;最da測(cè)量長(zhǎng)度900μm在100x下/230μm在400x下
最小測(cè)量單位:0.1μm
允許試樣高度:200mm;允許試樣深度:160mm
可測(cè)試參數(shù):HV,HK
載物臺(tái):直徑80mm
照明:12V/5W LED冷光源
接口:RS232/并行口
打印輸出:測(cè)量數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)（最da值、最小值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、均方差）
操作面板:加載開(kāi)始/零位設(shè)定/保載時(shí)間/燈光調(diào)節(jié)/轉(zhuǎn)換標(biāo)尺/塔臺(tái)設(shè)置/數(shù)據(jù)處理（瀏覽、刪除、打印）/系統(tǒng)設(shè)置（測(cè)試條件、語(yǔ)言、通訊、工廠設(shè)置等）
樣品表面粗糙度:Ra≤0.4
精度符合:***GB/T4340.2-2012,JIS B-7735, ASTM E-384 and ISO/DIN6507-2
硬度值轉(zhuǎn)換符合中國(guó)GB/T 1172-1999
照相裝置可安裝攝像系統(tǒng)(選配)
尺寸:W226×D560×H660 mm
重量:約72Kg
電源單相AC220V 50/60 Hz
主要特點(diǎn)：
-高分辨率顯微鏡成像系統(tǒng)可清晰高襯度顯示出壓痕及樣品的金相組織；
-精密的機(jī)械結(jié)構(gòu)，舒適***的測(cè)量裝置，***了測(cè)量的可靠性和重復(fù)性；
-自動(dòng)轉(zhuǎn)塔臺(tái)提供快速簡(jiǎn)潔的操作系列，只要按一下啟動(dòng)鍵（START）便可以自動(dòng)完成<物鏡→壓頭→加載→保載→卸載>
-能夠快捷簡(jiǎn)單準(zhǔn)確的測(cè)量材料維氏（HV）硬度值及轉(zhuǎn)換成HRC硬度值。
-操控面板功能：加載開(kāi)始、零位設(shè)定、保載時(shí)間、燈光調(diào)節(jié)、轉(zhuǎn)換標(biāo)尺、塔臺(tái)位置、數(shù)據(jù)清楚及刪除、轉(zhuǎn)換值選擇、打印。
-塔臺(tái)機(jī)構(gòu)可裝2個(gè)物鏡，除10倍標(biāo)準(zhǔn)配置以外，還可選配二個(gè)物鏡。（5倍、20倍、40倍任選）；
-有CCD光學(xué)接口可連接電腦在顯示器上成像測(cè)量，并可打印非常清晰的照片及圖像。
-精度符中國(guó)計(jì)量檢定規(guī)程 JJG151-2006 ,GB/T4340.2-2012, ISO/DIN6507-2和日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)JIS B-7735美國(guó)ASTM E-384。
上海恒一硬度計(jì) 顯微維氏硬度計(jì)
標(biāo)準(zhǔn)配備：
直徑80mm載物臺(tái)：1個(gè) 標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試塊（700HV1/400HV10）D型：各1個(gè)
標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試塊(700HV5/400HV10）A型：各1個(gè) 標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試塊（700HV1/400HV10）B型：各1個(gè)
測(cè)量顯微目鏡電子型 （10倍）：1個(gè) 金剛石壓頭HV（內(nèi)裝）：1只 物鏡（10倍內(nèi)裝）（20xA型，40xD/B型）：1個(gè)
V型臺(tái)：1個(gè) 水平調(diào)整腳 ：4個(gè) 水平儀 ：1個(gè) 壓頭罩（內(nèi)裝）：1個(gè)
儀器罩 ：1個(gè) 電源線 ：1個(gè) 輔助工具：1組 使用手冊(cè)：1本 附件箱1個(gè)
應(yīng)用范圍：
滲氮層、陶瓷、鋼、有色金屬；
薄板、金屬薄片、電鍍層、微波試件；
碳化層、脫碳層和淬火硬化層的深度測(cè)量；
適用于平行平面和微波零件及超薄零件的精密維氏測(cè)量。
