在半導(dǎo)體材料和器件的研究中,電性能測試是B不可少的環(huán)節(jié)。隨著半導(dǎo)體技術(shù)的提升,微電子工藝逐漸復(fù)雜,如何對微電子材料器件進行高效率測試成為業(yè)內(nèi)關(guān)注的重點。普賽斯儀表陸續(xù)推出多型號國產(chǎn)化數(shù)字源表SMU,為進一步打通測試融合壁壘,打造閉環(huán)解決方案,通過對半導(dǎo)體G端測試裝備上下游產(chǎn)業(yè)鏈的垂直整合,晶圓級微電子材料器件測試系統(tǒng)應(yīng)運而生!
普賽斯數(shù)字源表SMU是整個測試系統(tǒng)的核心部分,用戶可以根據(jù)材料器件不同的電流、電壓,配置不同規(guī)格參數(shù)的源表和探針臺。
更高效:靈活測試:
體積小巧,節(jié)省實驗臺空間
接線簡單,無需繁雜的同步觸發(fā)操作
適應(yīng)多種測量模式,如四探針、三同軸等
更可靠:廣泛應(yīng)用:
利用普賽斯這套國產(chǎn)化高精度數(shù)字源表+探針臺的測試系統(tǒng),可以為您完成任何晶圓、芯片、微小電子器件的測試。數(shù)字源表搭建微電子教學(xué)實驗平臺就找普賽斯儀表
武漢普賽斯是國內(nèi)醉早生產(chǎn)源表的廠家,產(chǎn)品系列豐富:產(chǎn)品覆蓋不同的電壓、電流范圍,產(chǎn)已經(jīng)過了市場的考驗、市面有近500臺源表在使用,市場應(yīng)用率高;SXXB系列高精度數(shù)字源表,相比于傳統(tǒng)S系列源表,直流更大、精度更高、準確度提升至±0.03%,直流電流升級至3A,可為半導(dǎo)體行業(yè)提供更加精準、穩(wěn)定的測試方案;數(shù)字源表搭建微電子教學(xué)實驗平臺認準普賽斯儀表