MPS50系列為兩線制W波段調(diào)頻連續(xù)波雷達物位儀表
適用于料倉內(nèi)固體介質(zhì)的連續(xù)物位測量,量程100m
MPS50系列雷達物位計是基于調(diào)頻連續(xù)波技術(shù)的測量系統(tǒng)。雷達物位計通過透鏡天線發(fā)射連續(xù)的微波信號,該發(fā)射信號的頻率由鋸齒波進行線性調(diào)制。連續(xù)發(fā)射的微波信號遇到被測介質(zhì)表面時,由于介電常數(shù)發(fā)生突變,微波信號的部分能量被連續(xù)的反射回來,并被透鏡天線系統(tǒng)所接收。
接收信號的頻率與發(fā)射信號的頻率總是存在差值的,而該差值與雷達天線到被測介質(zhì)表面的距離成正比,越大的頻率差值代表著越遠的物料距離。由式(1)即可計算出被測物質(zhì)到儀表法蘭的距離。
D=1/2 · c · (ΔF/R) (1)
其中D為測量參考面到被測介質(zhì)的距離,c為光(電磁波)在真空的的傳播速度,ΔF為接收信號與發(fā)射信號的頻率差,R為發(fā)射信號頻率隨時間的變化率。
然后根據(jù)用戶設定的空料位位置,由式(2)即可計算出物料高度。
L=E-D (2)
其中E為測量參考面到用戶設定的空料位位置,D為測量參考面到被測介質(zhì)的距離,L為物料高度。