一、電器產(chǎn)品冷熱沖擊試驗(yàn)箱簡介:
冷熱沖擊試驗(yàn)箱根據(jù)待測試樣品的特殊性,分為兩箱式動態(tài)沖擊和三箱式靜態(tài)沖擊,本產(chǎn)品可做冷熱沖擊,也可以做單獨(dú)高溫或低溫使用。是在同一臺設(shè)備里同時做冷熱交替循環(huán)測試或恒溫試驗(yàn)。冷是指制冷,熱是指加熱,所有制冷設(shè)備均是采用進(jìn)口壓縮機(jī)作為冷凍系統(tǒng)的核心部件,在選材上始終以質(zhì)量高,耗電低,使用壽命長,運(yùn)行穩(wěn)定而立不敗之地。加熱則是采用鎳鉻合金加熱絲:(電熱絲的種類有鐵鉻鋁合金電熱絲和鎳鉻合金電熱絲。鎳鉻合金電熱絲的優(yōu)點(diǎn)是在高溫環(huán)境中的強(qiáng)度高,*高溫運(yùn)行不易變形,不易改變結(jié)構(gòu),且鎳鉻合金電熱
二、電器產(chǎn)品冷熱沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù):
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三、冷熱沖擊試驗(yàn)箱??滿足標(biāo)準(zhǔn):
1. GJB150.5A-2009溫度沖擊試驗(yàn)
2. GB/2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009溫度沖擊試驗(yàn)
3. GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)
第2部分:試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則
4. GJB360B-2009溫度沖擊試驗(yàn)
5. GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫
6.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2:2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫
7.GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
8.GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
四、冷熱沖擊試驗(yàn)箱設(shè)備布局:
設(shè)備設(shè)計(jì)為整體式結(jié)構(gòu),正前面上方為試驗(yàn)工作室,前面下方為預(yù)熱工作室,后面上方為預(yù)冷工作室,后面下方為制冷機(jī)組機(jī)械室,設(shè)備頂部安裝常溫沖擊循環(huán)風(fēng)道及送風(fēng)機(jī),設(shè)備右側(cè)為電器控制箱。設(shè)備底部安裝移動腳輪及定位腳杯可方便設(shè)備移動及定位,預(yù)熱工作室、預(yù)冷工作室、常溫沖擊室、試驗(yàn)工作室間通過風(fēng)門切換互通,從而實(shí)現(xiàn)溫度快速交變的目的,同時占地面積較小節(jié)約使用場地。