一、冷熱沖擊循環(huán)半導體測試溫度沖擊試驗箱?設備主要特點：
(01)試料槽*靜止，可由測試孔外加負載配線;
(02)蓄能方式可避免使用者職業(yè)傷害；（注：液態(tài)氣體所產生的廢氣，吸入肺部致使肺部氧氣量減少，而產生工作倦怠，注意力不集中等）;
(03)采用觸控式彩色液晶顯示人機接口控制器，操作簡單，學習容易；
(04)溫度制御精度高，全部采用PID 自動演算制御; 
(05)可選擇始動位置，高溫或低溫開始循環(huán);
(06)具有預約起動功能;
(07)可設定循環(huán)次數及自動除霜;
(08)可選擇二槽或三槽循環(huán);
(09)運轉狀態(tài)顯示;
(10)有異?；蚬收巷@示及排除方法說明;
(11)氣動式閥門方便開啟，保證氣密及斷熱保護.
二、冷熱沖擊循環(huán)半導體測試溫度沖擊試驗箱?主要用途：
冷熱沖擊試驗機能模擬高溫與低溫之間的瞬間變化環(huán)境。從而判斷產呂的可靠性及穩(wěn)定性能等參數是否合格。將提供給您預測和改進產品的質量和可靠性依據。 用于檢測電子、汽車、橡膠、塑膠、航太科技及高級通信器材等產品在反復冷熱變化下的抵抗能力。
技術參數
1、 溫度范圍：-40℃～+150℃、-55℃～+150℃、、-65℃～+150℃
2、 溫度上限：+175℃
3、 溫度下限：-60℃
4、 溫度偏差：±2℃
5、 溫度波動度：±0.5℃
6、 溫度恢復時間：5min
7、 溫度恢復條件：高溫+150℃保溫≥30min，低溫-60℃保溫≥30min，試品重量在規(guī)定范圍內
8、 試品轉移時間：≤15秒
9、 試品轉移方式：采用氣動
10、試品重量：≤3kg
11、高溫室升溫時間：30min (+25℃～+100℃)
12、低溫室降溫時間：60min (+25℃～-55℃)
13、噪音：（dB）≤65
14、電源：AC380V/50Hz+保護接地 1
5、總功率：20KW
型號及尺寸（D*W*H mm）：
型 號 工作室尺寸 外形尺寸
COK-42L 400X300X350MM 1560X1950X1380MM
COK-80L 500X400X400MM 1650X1800X1730MM
COK-150L 600X500X500MM 1700X1800X1730MM
COK-225L 800X700X600MM 1800X1800X2400MM 
