電容器的壽命、故障率受所使用溫度和所加載電壓的影響,這些是對(duì)介質(zhì)的負(fù)載系數(shù),統(tǒng)稱為加速系數(shù)。
本裝置是在溫度環(huán)境下,設(shè)定加載電壓,對(duì)多通道漏電流進(jìn)行高速測(cè)量的裝置。
1) 加載電壓有兩種模式:300V和1000V
2) 1臺(tái)最多可測(cè)試100通道(CH),1臺(tái)電腦最多可控制4臺(tái),即可測(cè)試400通道(CH)。
3) 可設(shè)定溫濕度箱的溫度和濕度
4) 系統(tǒng)對(duì)多可搭配4臺(tái)溫濕度箱
5) 擁有溫度補(bǔ)正功能 (溫濕度箱的顯示溫度偏差修正)
6) 用Ethernet I/F和PC連接,實(shí)現(xiàn)高速通信。
系統(tǒng)構(gòu)成
1) PC(控制用電腦:Windows10)
2) SMU板(10CH/板)1個(gè)測(cè)試單元,可配置10塊板。
3) 環(huán)境試驗(yàn)箱(可使用現(xiàn)有設(shè)備或配套購(gòu)置)
4) 測(cè)試單元:最多可配置10塊板
5) 測(cè)量單元的電源:100V~240V(50Hz或60Hz)
l 測(cè)試單元
l 測(cè)試板
板名稱 | 加載電壓 | 測(cè)試電流 量程 | 電阻測(cè)試范圍 | 測(cè)試通道ch數(shù) (每塊板) | 試驗(yàn)條件設(shè)定 |
300V板 | 1.0 ~ 300V | 1.00000mA 10.0000uA 100.000nA | 300Ω~300TΩ | 10ch | 1ch/電源。 每塊板可單獨(dú)設(shè)定 |
1000V板 | 1.0V ~1000.0V | 1.00000mA 10.0000uA 100.000nA | 100Ω~1000TΩ | 10ch | 1ch/電源。 每塊板可單獨(dú)設(shè)定 |
l 規(guī)格
|
l 板的種類---獨(dú)立電源版
被測(cè)電容單個(gè)加載電壓的測(cè)試板。優(yōu)點(diǎn):當(dāng)某個(gè)電容發(fā)生短路,電流超,不會(huì)影響到相鄰的電容,測(cè)試將繼續(xù)。
l 加載電壓
1.1 加載電壓一定
加載電壓和定期收錄加載電壓相同時(shí)(加載到樣品上的電壓一定時(shí)),如下圖所示,只有在最初的加載電壓時(shí)才會(huì)產(chǎn)生等待時(shí)間,在穩(wěn)定時(shí)間結(jié)束前不進(jìn)行測(cè)量。
1.1 定期收錄時(shí)的試驗(yàn)電壓
加載、定期收錄、特定收錄的加載穩(wěn)定時(shí)間的設(shè)定,只有在加載電壓變化時(shí)有效。例如,如下圖所示,在加載電壓和定期收錄的加載電壓值不同的情況下(加載到樣品上的電壓發(fā)生變化的情況下),當(dāng)加載電壓發(fā)生變化時(shí),在穩(wěn)定時(shí)間結(jié)束之前不進(jìn)行測(cè)量。
Ø 電容故障
樹珊是指在層疊陶瓷電極之間產(chǎn)生的金屬離子的生長(zhǎng)狀態(tài)下,將基板表面從陰極朝向陽(yáng)極,樹枝狀金屬成分析出的狀態(tài)。隨著時(shí)間的推移,樹珊逐漸生長(zhǎng),電極之間流動(dòng)的電流逐漸增大,最終在陽(yáng)極和陰極之間(+,-電極)接觸,變成短路狀態(tài),但是短路的地方由于碳化現(xiàn)象絕緣性變大,流動(dòng)的電流非常少。
這種現(xiàn)象被稱為離子遷移,在恒溫恒濕狀態(tài)下,在加載電壓的條件下,記錄最初發(fā)生到形成這
種現(xiàn)象的時(shí)間。
利用樣品的數(shù)量N來(lái)分析該現(xiàn)象,可進(jìn)行壽命預(yù)測(cè)。
因此,為了提高壽命預(yù)測(cè)的精度,需要多取樣品數(shù)N。
Ø 環(huán)境試驗(yàn)箱內(nèi)夾具
箱內(nèi)夾具,即可固定,也可取出。
Ø 軟件