數(shù)字工業(yè)DR平板探測器
是一種X線直接轉(zhuǎn)換技術(shù)，它利用硒作為X線檢測器，成像環(huán)節(jié)少；DR是一種X線間接轉(zhuǎn)換技術(shù)，它利用影像板作為X線檢測器，成像環(huán)節(jié)相對DR較多。DR和將穿透被照射物體后的X線信息轉(zhuǎn)化為數(shù)字信息，灰階由膠片的256級提升至2048級、能在計算機中處理、因而可通過軟件和功能實現(xiàn)圖像的優(yōu)化、圖像質(zhì)量大大提高。DR的核心技術(shù)是它的平板(FP)、采用一個帶有碘化銫閃爍器的單片非結(jié)晶硅面板．將吸收的X光信號轉(zhuǎn)換成可見光信號、再通過低噪聲光電二極管陣列吸收可見光．并轉(zhuǎn)換為電信號、然后通過低噪聲讀出電路將每個像素的數(shù)字化信號傳送到圖像處理器，由計算機將其集成為X線影像，以DOE為評價參數(shù)．因而其圖像層次豐富、影像邊緣銳利清晰，細微結(jié)構(gòu)表現(xiàn)出色．CR則將信息首先記錄在涂有氟化鋇的上．再通過掃描裝置實現(xiàn)數(shù)字化轉(zhuǎn)換，其曝光條件仍由所匹配的X線成像設(shè)備所限制．因而圖像與DR相比略遜。CR的圖像對比度和噪聲的表現(xiàn)也不錯．這可能與其攝影時使用較高的mAs有關(guān)。圖像質(zhì)量的提高提升了診斷醫(yī)師的滿意度，大大減少了的漏診和誤診.同時用在工業(yè)無損檢測成像上效果更加清晰
數(shù)字放射成像 | CR 暗盒替代品、 |
有效區(qū)域： | 43x35 厘米（17x14 英寸） |
像素大?。?/span> | 139 微米 |
有效矩陣： | 3072 x 2560 |
填充因子： | 99% |
幀率： | 8 - 10 秒 |
能量： | 150 千伏 |
下載數(shù)據(jù)表： | 探測器 |
用于各類IC芯片、BGA、IGBT、LED、及其它電子元器件等的內(nèi)部質(zhì)量檢測，及在線測試、智能判斷和分揀等。用于元器件識別與計數(shù)，PCB電路焊接、文字印刷缺陷檢測等。主要針對電子廠、電熱絲廠、玩具廠、制藥廠等廠家、生產(chǎn)商專門設(shè)計的專用檢測設(shè)備。電子產(chǎn)品內(nèi)部是否變形、脫焊、空焊的檢測；塑膠件、鋁件內(nèi)是否有氣孔氣泡。電熱絲、電容、熱敏電阻內(nèi)部結(jié)構(gòu)無損檢測.還可用于煙草檢測。
