重慶直銷日本理研,固定式大氣光電子能譜分析儀重慶直銷日本理研,固定式大氣光電子能譜分析儀
重慶直銷日本理研,固定式大氣光電子能譜分析儀
功函數(shù)的電離電勢可以在大氣中進行測量
,MAX180㎜×樣品的180㎜可以測量
,25個樣本的連續(xù)測量可以
用于AC系列的原理和特征
重慶直銷日本理研,固定式大氣光電子能譜分析儀
重慶直銷日本理研,固定式大氣光電子能譜分析儀
產(chǎn)品技術指標
產(chǎn)品類別 | 固定式 |
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要檢測的氣體 | 功函數(shù)電離勢 |
檢測原理 | 低能電子計數(shù)法 |
檢測范圍 | 3.4至6.2 eV(364至200 nm) |
各種認證 | (德國)RIKEN開發(fā)的產(chǎn)品PAT。編號3481031 |
電源 | AC 100 V至240 V 50/60 Hz 5 A(*大值) |
外部尺寸/質量 | 【光源部分】 約470(W)×500(H)×300(D)mm約35 kg [測量部分] 約600(W)×500(H)×380(D)mm約50 kg |
工作溫度和濕度范圍 | 15至35℃60%RH或更低 |
工作功能的測量·電離勢
將解釋功函數(shù)的測量·電離電勢。
當紫外線照射在樣品表面上時,發(fā)射的光電子的數(shù)量根據(jù)紫外線的能量而變化。
如在A中,當紫外線能量小時,不發(fā)射光電子。
另一方面,當紫外光的能量像B一樣足夠大時,價帶中的電子被激發(fā)到高于真空能級的能級并發(fā)射光電子。
因此,光電發(fā)射的閾值能量是@,即真空能級與價帶頂部能量之間的差值。如果價帶頂部的能量與金屬的費米能級相匹配,則光電子發(fā)射的閾值能量是功函數(shù)。
當價帶頂部的能量和費米能級像半導體一樣不同時,光電發(fā)射的閾值能量是電離電位。
圖。金屬/半導體的帶圖,功函數(shù),電離勢
圖。功函數(shù)/電離勢的測量示例
通過使用AC-2或AC-3,您可以測量大氣中的功函數(shù)和電離勢。