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測量對象
Low-E鍍膜玻璃
TCO光伏玻璃、ITO玻璃、觸摸屏玻璃、LED發(fā)光玻璃
透明導電薄膜材料
人工合成金屬片及導電紙
其他導電和半導體材料
儀器特點
- 高精度接觸測量;
- 專用于大面積平板鍍膜測量
- 探針直徑大,針頭光滑,能伸縮,不易劃傷膜層;
- 多個量程范圍可自動選擇;
- 校準數據和測量結果自動存儲;
- 串行數據接口;
- 以Ohm/sq或Siemens/sq顯示數據。
技術參數
參數名稱 | 技術指標 |
測量方式 | 四探針測量 |
測量量程 | 0.05~2000 Ohm/sq |
測量允許誤差 | 不含探頭:0.2%含探頭:3 % |
溫度漂移 | 50 pp/K @ 0~45℃ |
通訊接口 | RS485 |
測量速度 | 6s(含探針探頭移動) |
工作環(huán)境 | 溫度:0~50℃相對濕度:≤80% |
存儲環(huán)境 | 溫度:-10~+65℃相對濕度:≤80% |
供電電源 | DC24V |
額定功率 | 40W |
探針直徑 | ? 0.75mm |
探針間距 | 2mm |
探針壓力 | 200g |
尺寸圖
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